[发明专利]一种提高万用表测量精度的方法和万用表

说明书

一种提高万用表测量精度的方法和万用表，提高万用表测量精度的方法包括：ADC以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集，得到数字化的测量数据；第一处理器以平均采样个数N为滑动长度对测量数据进行滑动平均处理，得到滑动平均数据，N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值；第二处理器以M/K为间隔抽取滑动平均数据，得到待显示数据，K为万用表的测量速率；输出待显示数据。由于通过滑动平均处理和对得到的滑动平均数据的抽取处理，能够将万用表的测量精度和测量速率分开而互不影响，使得在提高万用表测量精度的同时不需要降低万用表的测量速率。

技术领域

本发明涉及电子测量技术领域，具体涉及一种提高万用表测量精度的方法和万用表。

背景技术

万用表一般以测量电压、电流和电阻为主要目的，是一种多功能、多量程的测量仪表。近年来，随着数字化技术的发展，数字万用表的出现，为测量技术领域增添了新的先进测量仪器。数字万用表采用了大规模的集成电路和数字显示技术，具有结构轻巧、测量精度高、输入阻抗高、用途广等优点，深受电子行业从业者的青睐。在对测量要求越来越高的今天，测量精度的高低更是成为衡量数字万用表性能高低和区分数字万用表价格的主要参数之一。

目前，数字万用表实现速率改变的过程为：数字万用表将模数转换器(Analog toDigital Converter，ADC)采集到的测量数据进行算术平均值处理后传送给处理器，处理器再将处理后的数据打印在显示屏上。图1为数字万用表对测量数据进行算术平均值处理的过程的示意图，如图1所示，假设ADC的采样率为M个/秒，数字万用表的测量速率为K个/秒，那么，数字万用表的平均采样个数可表示为N＝M/K，ADC每采集N个数，处理器会打印一个数到显示屏上。当数字万用表的平均采样个数N越大时，其精度越高。

由上述过程可知，M＝K*N，其中，ADC的采样率M是固定值，那么数字万用表的测量速率K和平均采样个数N将成反比关系，这样，当增大平均采样个数N，即提高万用表的测量精度时，就必须要降低万用表的测量速率K。

发明内容

本申请要解决的问题是提供一种提高万用表测量精度的方法和万用表，在不需要降低万用表测量速率的情况下即可提高万用表测量精度。

根据第一方面，一种实施例中提供一种提高万用表测量精度的方法，包括：

模数转换器以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集，得到数字化的测量数据，所述M为大于0的整数；

第一处理器以平均采样个数N为滑动长度对所述测量数据进行滑动平均处理，得到滑动平均数据，所述N为大于0的整数，所述N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值；

第二处理器以M/K为间隔抽取所述滑动平均数据，得到待显示数据，所述K为万用表的测量速率，所述K和M/K均为大于0的整数；

输出所述待显示数据。

根据第二方面，一种实施例中提供一种万用表，包括：

模数转换器，用于以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集，得到数字化的测量数据，所述M为大于0的整数；

第一处理器，用于以万用表的平均采样个数N为滑动长度对所述测量数据进行滑动平均处理，得到滑动平均数据，所述N为大于0的整数，所述N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值；

第二处理器，用于以M/K为间隔抽取所述滑动平均数据，得到待显示数据，所述K为万用表的测量速率，所述K和M/K均为大于0的整数；

输出模块，用于输出所述待显示数据。

根据第三方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有提高万用表测量精度的程序，所述提高万用表测量精度的程序能够被处理器执行以实现如上述提高万用表测量精度的方法的步骤。