[发明专利]一种提高万用表测量精度的方法和万用表在审
| 申请号： | 201711434465.8 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN108572272A | 公开（公告）日： | 2018-09-25 |
| 发明（设计）人： | 陈嘉锋;钱柏年;周云海 | 申请（专利权）人： | 深圳市鼎阳科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R15/12 | 分类号： | G01R15/12 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 郭燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 万用表 测量 滑动平均 待显示数据 测量数据 抽取 第二处理器 第一处理器 模拟信号 采样率 滑动 采样 预设 数字化 采集 输出 检测 | ||
1.一种提高万用表测量精度的方法，其特征在于，包括：
模数转换器以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集，得到数字化的测量数据，所述M为大于0的整数；
第一处理器以平均采样个数N为滑动长度对所述测量数据进行滑动平均处理，得到滑动平均数据，所述N为大于0的整数，所述N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值；
第二处理器以M/K为间隔抽取所述滑动平均数据，得到待显示数据，所述K为万用表的测量速率，所述K和M/K均为大于0的整数；
输出所述待显示数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以平均采样个数N为滑动长度对所述测量数据进行滑动平均处理，得到滑动平均数据，包括：
对第1至N个测量数据进行算术平均值处理，得到第1个滑动平均数据；
向后滑动一位，计算第2至N+1个测量数据的算术平均值，得到第2个滑动平均数据，依此类推得到后续的滑动平均数据。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以M/K为间隔抽取所述滑动平均数据，得到待显示数据，包括：
取所述滑动平均数据中的第1个滑动平均数据，得到第1个待显示数据；
从所述滑动平均数据中的第2个滑动平均数据开始，每隔M/K个滑动平均数据，取所述M/K个滑动平均数据中的第M/K个滑动平均数据，得到第j个待显示数据，所述j为大于或等于1的整数。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输出所述待显示数据，包括：
以所述K为输出速率，输出所述待显示数据。
5.一种万用表，其特征在于，包括：
模数转换器，用于以采样率M对万用表检测的模拟信号进行采集，得到数字化的测量数据，所述M为大于0的整数；
第一处理器，用于以万用表的平均采样个数N为滑动长度对所述测量数据进行滑动平均处理，得到滑动平均数据，所述N为大于0的整数，所述N为根据预设的万用表的测量精度而得到的值；
第二处理器，用于以M/K为间隔抽取所述滑动平均数据，得到待显示数据，所述K为万用表的测量速率，所述K和M/K均为大于0的整数；
输出模块，用于输出所述待显示数据。
6.如权利要求5所述的万用表，其特征在于，所述第一处理器为FPGA。
7.如权利要求5所述的万用表，其特征在于，所述第一处理器和所述第二处理器集成在一个芯片中。
8.如权利要求5所述的万用表，其特征在于，所述输出模块为显示器。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有提高万用表测量精度的程序，所述提高万用表测量精度的程序能够被处理器执行以实现如权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市鼎阳科技有限公司，未经深圳市鼎阳科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711434465.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
