[发明专利]基于慢速清空方式的自动曝光控制方法及装置

说明书

本发明提供一种基于慢速清空方式的自动曝光控制方法，用于探测器自动曝光探测模式下，所述自动曝光控制方法至少包括：探测器空闲状态下执行清空动作，且清空时每行的扫描时间大于其内部感应器曝光的响应时间，则探测器至多损失一行的X光剂量；当检测到曝光开始时，停止清空动作，并等待曝光结束；当检测到曝光结束时，启动图像采集动作，且图像采集时每行的扫描时间小于清空时每行的扫描时间，并控制扫描一整张图像的时间在ms级别。本发明基于慢速清空方式的自动曝光控制方法将过渡带控制在一行之内，可以通过坏线校正方式进行有效校正，相对于单纯的增加行扫描时间，曝光上图时间未增加。

技术领域

本发明涉及数字X射线平板探测器技术领域，特别是涉及一种X射线平板探测器中基于慢速清空方式的自动曝光控制方法及装置。

背景技术

数字X光平板探测器在X光设备曝光后，采集残留在面板上的信号，达到物体透视成像的效果。因此在成像的过程中，平板探测器的采集动作与X光设备的曝光动作需要同步，否则可能出现X光设备的曝光与平板探测器的采集动作冲突的问题，此时会出现异常的图像。

另外平板探测器在X光设备曝光之前需要先清空平板探测器内存在的残留信号，保证采集得到的图像不含有其他信号，只含有X光设备的曝光信号。

因此一次完整的曝光同步采集流程是：平板探测器清空-X光设备曝光-平板探测器采集。

常用的自动曝光检测是平板探测器空闲状态时一直处于清空动作，当内部感应器感测到 X光设备发射X光后，停止平板探测器的清空动作，等待曝光结束后，再次启动图像采集动作。但是当X光设备的出光量低时，内部感应器的响应时间会增加，当响应时间超过平板探测器清空一行时间，则在曝光结束后采集图像上的对应行由于X光信号被清空而产生灰度值偏低的过渡带，如果内部感应器的响应时间增加，过渡带的宽度也相应的增加，过渡带的存在影响图像质量。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种基于慢速清空方式的自动曝光控制方法及装置，用于解决由于平板探测器内部感应器的响应时间与平板探测器每行清空时间的差值问题造成的过渡带，以及由此产生的图像校正问题。

为实现上述目的，本发明采用以下方案：一种基于慢速清空方式的自动曝光控制方法，用于探测器自动曝光探测模式下，所述自动曝光控制方法至少包括以下步骤：所述探测器空闲状态下执行清空动作，且清空时每行的扫描时间大于其内部感应器曝光的响应时间，则探测器至多损失一行的X光剂量；当检测到曝光开始时，停止清空动作，并等待曝光结束；当检测到曝光结束时，启动图像采集动作。

于本发明的一实施方式中，图像采集时每行的扫描时间小于清空时每行的扫描时间，并控制扫描一整张图像的时间在ms级别。

于本发明的一实施方式中，还包括对采集的图像进行本底校正的步骤。

于本发明的一实施方式中，对采集的图像进行本底校正的步骤包括以下：计算曝光行上一行从清空至采集之间的时间；计算最后一行从清空至采集之间的时间；测定每个像素的漏电流值，根据漏电流与时间的线性关系推算出本底值；根据所述本底值对采集的图像进行本底校正。

于本发明的一实施方式中，所述探测器清空时每行的扫描时间控制在1ms～10ms之间。

于本发明的一实施方式中，所述探测器采集信息时每行的扫描时间控制在100us～200us 之间。

于本发明的一实施方式中，还包括从曝光行开始逐行扫描N行拼接成一张完整的亮场图像的步骤，其中，N为正整数，N为平板探测器的行数。