[发明专利]基于慢速清空方式的自动曝光控制方法及装置有效
| 申请号: | 201711433921.7 | 申请日: | 2017-12-26 | 
| 公开(公告)号: | CN108093186B | 公开(公告)日: | 2020-04-10 | 
| 发明(设计)人: | 袁冉 | 申请(专利权)人: | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 
| 主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235 | 
| 代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 王华英 | 
| 地址: | 201201 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 慢速 方式 自动 曝光 控制 方法 装置 | ||
1.一种基于慢速清空方式的自动曝光控制方法,用于探测器自动曝光探测模式下,其特征在于,所述自动曝光控制方法至少包括以下步骤:
所述探测器空闲状态下执行清空动作,且清空时每行的扫描时间大于其内部感应器曝光的响应时间,则探测器至多损失一行的X光剂量;
当检测到曝光开始时,停止清空动作,并等待曝光结束;
当检测到曝光结束时,启动图像采集动作。
2.根据权利要求1所述的基于慢速清空方式的自动曝光控制方法,其特征在于,图像采集时每行的扫描时间小于清空时每行的扫描时间,并控制扫描一整张图像的时间在ms级别。
3.根据权利要求1所述的基于慢速清空方式的自动曝光控制方法,其特征在于,还包括对采集的图像进行本底校正的步骤。
4.根据权利要求3所述的基于慢速清空方式的自动曝光控制方法,其特征在于,对采集的图像进行本底校正的步骤包括以下:
计算曝光行上一行从清空至采集之间的时间;
计算最后一行从清空至采集之间的时间;
测定每个像素的漏电流值,根据漏电流与时间的线性关系推算出本底值;
根据所述本底值对采集的图像进行本底校正。
5.根据权利要求1所述的基于慢速清空方式的自动曝光控制方法,其特征在于,所述探测器清空时每行的扫描时间控制在1ms~10ms之间。
6.根据权利要求1所述的基于慢速清空方式的自动曝光控制方法,其特征在于,所述探测器采集信息时每行的扫描时间控制在100~200us之间。
7.根据权利要求1所述的自动曝光控制方法,其特征在于,还包括从曝光行开始逐行扫描N行拼接成一张完整的亮场图像的步骤,其中,N为正整数,N为平板探测器的行数。
8.一种自动曝光控制装置,包括用于发射光信号的光信号发生器和处于自动曝光探测模式下的探测器,其特征在于,所述探测器至少包括:
探测器面板,接收所述光信号发生器发射的光信号并将其转换为电荷信号存储;
感应器,连接所述探测器面板,用于感应曝光信息;
控制电路,连接所述探测器面板和所述感应器,所述控制电路用于在空闲状态时清空所述探测器面板内残留的信号,其中,所述控制电路清空时每行的扫描时间大于所述感应器的曝光响应时间,所述控制电路还用于在接收到所述感应器发送的曝光信号后停止清空动作;所述控制电路还用于在接收到所述感应器反馈的曝光结束信息后启动采集图像动作。
9.根据权利要求8所述的自动曝光控制装置,其特征在于,所述控制电路清空时每行的扫描时间范围在1ms~10ms之间。
10.根据权利要求8所述的自动曝光控制装置,其特征在于,所述控制电路采集信息时每行的扫描时间范围在100us~200us之间。
11.根据权利要求8所述的自动曝光控制装置,其特征在于,还包括图像显示模块,用于对所述控制电路采集的图像信息呈现。
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