[发明专利]精密仪器性能参数保持期预测方法和系统

说明书

本发明涉及一种精密仪器性能参数保持期预测方法和系统，根据待测精密仪器样品的原始性能参数计算所述待测精密仪器样品的伪失效时间数据，然后求解可靠性分布模型，最后根据求解的可靠性分布模型对所述待测精密仪器样品的性能参数保持期进行预测，能够有效提高对试验样本的性能参数保持期的预测精确度，从而为加速退化试验提供准确的先验信息。

技术领域

本发明涉及加速退化试验技术领域，特别是涉及一种精密仪器性能参数保持期预测方法和系统。

背景技术

加速退化试验是用加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加速退化试验方法为高可靠长寿命产品的可靠性评定提供了基础。加速退化试验的类型很多，常用的是如下三类：

(1)恒定应力加速退化试验，简称恒加试验，即先选一组加速应力水平，然后将一定数量的样品分为若干组，每组在一个应力水平下进行寿命试验，直到各组均有一定数量的样品发生失效为止。

(2)步进应力加速退化试验，简称步加试验，即是先选定一组均高于正常应力水平的加速应力水平，试验开始时把一定数量的样品放置于初始水平下进行寿命试验，经过一段时间后提高应力水平继续进行寿命试验，经过一段时间后将应力水平提高至更高的应力水平，如此继续下去，直至有一定数量的样品发生失效为止。

(3)序进应力加速退化试验，简称序加试验。它与步加试验基本相同，不同之处在于它施加的加速应力水平将随时间连续上升。

在进行加速退化试验之前，一般会对试验样本的性能参数保持期进行预测，将预测结果作为加速退化试验的先验信息。然而，传统的对试验样本的性能参数保持期进行预测的方式预测精确度较低。

发明内容

基于此，有必要针对传统的对试验样本的性能参数保持期进行预测的方式预测精确度较低的问题，提供一种精密仪器性能参数保持期预测方法和系统。

一种精密仪器性能参数保持期预测方法，包括以下步骤：

获取待测精密仪器样品的原始性能参数；

根据所述原始性能参数计算所述待测精密仪器样品的伪失效时间数据；

根据所述伪失效时间数据对预先选取的可靠性分布模型进行求解；

根据求解后的可靠性分布模型对所述待测精密仪器样品的性能参数保持期进行预测。

一种精密仪器性能参数保持期预测系统，包括：

获取模块，用于获取待测精密仪器样品的原始性能参数；

计算模块，用于根据所述原始性能参数计算所述待测精密仪器样品的伪失效时间数据；

求解模块，用于根据所述伪失效时间数据对预先选取的可靠性分布模型进行求解；

预测模块，用于根据求解后的可靠性分布模型对所述待测精密仪器样品的性能参数保持期进行预测。

上述精密仪器性能参数保持期预测方法和系统，根据待测精密仪器样品的原始性能参数计算所述待测精密仪器样品的伪失效时间数据，然后求解可靠性分布模型，最后根据求解的可靠性分布模型对所述待测精密仪器样品的性能参数保持期进行预测，能够有效提高对试验样本的性能参数保持期的预测精确度，从而为加速退化试验提供准确的先验信息。

附图说明

图1为一个实施例的精密仪器性能参数保持期预测方法流程图；

图2为一个实施例的精密仪器性能参数保持期预测系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的技术方案进行说明。

如图1所示，本发明提供一种精密仪器性能参数保持期预测方法，可包括以下步骤：