[发明专利]一种测试方法及装置

说明书

本发明实施例提供了一种测试方法及装置，所述方法包括：将生成的测试指令设置在存储区；当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。本发明实施例可以应用于处理器中，处理器负责生成测试指令，可编程器件负责获取并发送测试指令，从而使得软件处理和硬件处理并行、生成测试指令和执行测试指令并行，可以消除因测试指令生成占用时间造成的延迟，提升测试的精确性。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试方法及装置。

背景技术

随着电子技术的发展，集成电路产品被大量使用，各设备对集成电路产品的性能和功能要求也越来越高，因此，对集成电路产品进行测试成为较为关键的技术手段之一。

现有技术中，当需要对EMMC(Embedded Multi Media Card，内嵌式多媒体卡)的读写性能、存储功能等进行测试时，通常采用模拟软件进行测试，具体来说，主机端的处理器生成测试指令后，将测试指令发送至EMMC，根据EMMC的测试反馈，得到EMMC的性能、功能参数。

然而，本领域技术人员在研究上述技术方案的过程中发现，上述技术方案存在如下缺陷：模拟软件进行测试时，处理器生成测试指令需要一定的时间，EMMC在收到一条测试指令后，若处理器侧新的测试指令还没有生成，EMMC只能等待，直到处理器生成新的测试指令后，才能再次接收该新的测试指令，因此，对于EMMC来说，处理器所在的主机端存在软件延迟；但是读写、擦除速度等参数是EMMC的重要性能指标，因为主机端的软件延迟，会导致无法准确测得EMMC的读写、擦除速度等参数，降低对EMMC测试的精确性。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种测试方法及装置。

根据本发明的第一方面，提供了一种测试方法，所述方法包括：

将生成的测试指令设置在存储区；

当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

根据本发明的第二方面，提供了另一种测试方法，所述方法包括：

根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；

发送所述测试指令至待测设备；

接收所述待测设备反馈的反馈参数；

返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果。

根据本发明的第三方面，提供了一种测试装置，所述装置包括：

测试指令设置模块，用于将生成的测试指令设置在存储区；

通知指令发送模块，用于当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

测试结果确定模块，用于根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成。

根据本发明的第四方面，提供了另一种测试装置，所述装置包括：