[发明专利]一种测试方法及装置

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：

将生成的测试指令设置在存储区；

当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成；

所述存储区存储的测试指令满足预设条件包括：

所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数和/或，全部测试指令生成完毕。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令之后，还包括：

在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设方式为循环覆盖方式；

所述循环覆盖方式包括：

从所述可编程器件从所述任务队列中获取第一个测试指令开始，在所述任务队列中保留第一预设个数的测试指令；

当所述可编程器件从所述任务队列中获取的测试指令个数达到所述第一预设个数后，所述可编程器件每获取一个新的测试指令，所述新的测试指令按照从队首到队尾的顺序依次覆盖原保留的测试指令，直到所述可编程器件获取的新的测试指令再次达到所述第一预设个数，新的测试指令将原保留的测试指令全部覆盖。

5.一种测试方法，其特征在于，应用于可编程器件，所述方法包括：

根据从处理器接收的通知指令，从对应的存储区获取测试指令；

发送所述测试指令至待测设备；

接收所述待测设备反馈的反馈参数；

返回所述反馈参数至所述处理器，以使所述处理器根据所述反馈参数确定测试结果；

其中，在所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数和/或，全部测试指令生成完毕，所述处理器向可编程器件发送通知指令。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

7.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：

测试指令设置模块，用于将生成的测试指令设置在存储区；

通知指令发送模块，用于当所述存储区存储的测试指令满足预设条件时，向可编程器件发送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可编程器件从所述存储区获取测试指令后，发送所述测试指令至待测设备；

测试结果确定模块，用于根据从所述可编程器件中读取的反馈参数，确定测试结果；其中，所述反馈参数由所述待测设备执行所述测试指令后生成；

所述存储区存储的测试指令满足预设条件包括：

所述存储区中存储的测试指令达到第二预设个数和/或，全部测试指令生成完毕。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述存储区为任务队列；所述任务队列中，所述测试指令按照被生成的次序从队首至队尾依次存储。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

存储模块，用于在所述任务队列中采用预设方式存储第一预设个数的测试指令；其中，每个所述测试指令对应有执行状态信息。