[发明专利]一种暗角校正系统及方法

说明书

本发明属于图像处理技术领域，公开了一种暗角校正系统及方法，方法包括：根据多张图像获得暗角校正系数；获得测试图像并解析得到图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据并封装输出。系统包括：第一PC端、相机、FPGA平台；相机用于拍摄获得测试图像；FPGA平台用于对测试图像进行解析获得图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据，并封装输出；第一PC端用于根据多张图像获得暗角校正系数，对暗角校正图像数据进行显示和/或检测。本发明解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。

技术领域

本发明涉及图形处理技术领域，尤其涉及一种暗角校正系统及方法。

背景技术

自动光学检测(AOI,Automated Optical Inspection)为工业自动化有效的检测方法，使用机器视觉做为检测标准技术，大量应用于LCD/TFT、晶体管与PCB工业制程上，在民生用途则可延伸至保全系统。以LCD/TFT为例,当自动检测时，机器通过摄像头扫描LCD/TFT，采集图像，经过图像处理，检查出LCD/TFT上的缺陷。

随着AOI检测性能和效率的要求越来越高,对采集图像的质量要求也越来越高。采集的图像中，由于镜头原因，会存在“暗角”的现象。即对着亮度均匀景物拍摄，画面四角都有变暗的现象。暗角对于任何镜头都不可避免。暗角的存在，对AOI有一定的影响，暗角可能会被误判为缺陷。而为了避免这种误判，往往需要调整检测算法参数，这样又容易导致对真实缺陷的漏检。

发明内容

本申请实施例通过提供一种暗角校正系统及方法，解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。

本申请实施例提供一种暗角校正方法，包括以下步骤：

获得N张均匀光照拍摄的图像，根据N张所述图像得到第N+1张图像，根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数；

获得测试图像，对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；

根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；

对所述暗角校正图像数据进行封装并输出。

优选的，所述根据N张所述图像得到第N+1张图像包括以下步骤：

获得N张所述图像的像素值；

对N张所述图像的像素值进行求平均处理，得到所述第N+1张图像。

优选的，所述根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数包括以下步骤：

获得所述第N+1张图像的像素值；

取所述第N+1张图像中有效区域内每个像素点的像素值，计算得到像素平均值；

将所述第N+1张图像中每个像素点的像素值除以所述像素平均值，得到除系数矩阵；

将所述除系数矩阵中的每个元素取倒数，得到乘系数矩阵，所述暗角校正系数包括所述乘系数矩阵。

优选的，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：

所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵；

所述图像像素数据与所述乘系数矩阵进行乘法运算。

优选的，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：

所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵以及加系数矩阵；

所述图像像素数据先与所述乘系数矩阵进行乘法运算，然后与所述加系数矩阵进行加法运算。