[发明专利]一种暗角校正系统及方法

权利要求书

1.一种暗角校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过相机获得N张均匀光照拍摄的图像，通过第一PC端根据N张所述图像得到第N+1张图像，通过所述第一PC端根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数，并将所述暗角校正系数输入至FPGA平台；

通过所述相机获得测试图像，通过所述FPGA平台对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；

通过所述FPGA平台根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据；

通过所述FPGA平台对所述暗角校正图像数据进行封装并输出至所述第一PC端；

通过所述第一PC端对所述暗角校正图像数据进行显示和/或检测；

其中，所述根据所述第N+1张图像获得暗角校正系数包括以下步骤：

获得所述第N+1张图像的像素值；

取所述第N+1张图像中有效区域内每个像素点的像素值，计算得到像素平均值；

将所述第N+1张图像中每个像素点的像素值除以所述像素平均值，得到除系数矩阵；

将所述除系数矩阵中的每个元素取倒数，得到乘系数矩阵，所述暗角校正系数包括所述乘系数矩阵。

2.根据权利要求1所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据N张所述图像得到第N+1张图像包括以下步骤：

获得N张所述图像的像素值；

对N张所述图像的像素值进行求平均处理，得到所述第N+1张图像。

3.根据权利要求1所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：

所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵；

所述图像像素数据与所述乘系数矩阵进行乘法运算。

4.根据权利要求1所述的暗角校正方法，其特征在于，所述根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行校正包括：

所述暗角校正系数为所述乘系数矩阵以及加系数矩阵；

所述图像像素数据先与所述乘系数矩阵进行乘法运算，然后与所述加系数矩阵进行加法运算。

5.一种暗角校正系统，其特征在于，包括：第一PC端、相机、FPGA平台；所述FPGA平台分别与所述第一PC端、所述相机连接；

所述相机用于拍摄获得测试图像；

所述FPGA平台用于对所述测试图像进行解析，获得图像像素数据；以及根据暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得所述暗角校正图像数据，并对所述暗角校正图像数据进行封装并输出至所述第一PC端；

所述相机为多个，所述FPGA平台包括多个校正模块，每个所述相机对应一个所述校正模块；

所述第一PC端用于实现如权利要求1-2任一所述方法中获得暗角校正系数的步骤，以及对所述暗角校正图像数据进行显示和/或检测。

6.根据权利要求5所述的暗角校正系统，其特征在于，所述第一PC端包括：系数输入模块、图像显示检测模块；

所述系数输入模块用于获得所述暗角校正系数，并将所述暗角校正系数输入至所述FPGA平台；

所述图像显示检测模块用于接收所述暗角校正图像数据，并对所述暗角校正图像数据进行显示和/或检测。

7.根据权利要求5所述的暗角校正系统，其特征在于，所述校正模块包括数据接口、有效数据提取模块、暗角校正系数读取模块、暗角校正计算模块、图像数据写DDR模块；

所述数据接口、所述有效数据提取模块、所述暗角校正计算模块、所述图像数据写DDR模块依次连接；所述暗角校正系数读取模块与所述暗角校正计算模块连接；

所述有效数据提取模块用于对所述测试图像进行解析，获得所述图像像素数据；

所述暗角校正系数读取模块用于读取所述暗角校正系数，并将所述暗角校正系数输入至所述暗角校正计算模块；

所述暗角校正计算模块用于根据所述暗角校正系数对所述图像像素数据进行暗角校正，获得所述暗角校正图像数据；

所述图像数据写DDR模块用于写入所述暗角校正图像数据。

8.根据权利要求7所述的暗角校正系统，其特征在于，所述FPGA平台还包括：存储模块、暗角校正系数写入模块、图形数据读DDR模块、GTP数据封包模块、光纤口；

所述存储模块分别与所述暗角校正系数写入模块、所述暗角校正系数读取模块、所述图像数据写DDR模块、所述图形数据读DDR模块连接；所述GTP数据封包模块分别与所述图形数据读DDR模块、所述光纤口连接；

所述暗角校正系数写入模块用于将所述暗角校正系数写入所述存储模块中予以储存；

所述图形数据读DDR模块用于读取所述暗角校正图像数据；

所述存储模块用于存储所述暗角校正系数、所述暗角校正图像数据；

所述GTP数据封包模块用于对所述暗角校正图像数据进行GTP格式封装；

所述光纤口用于连接所述FPGA平台和所述第一PC端。