[发明专利]一种大功率芯片老化机

说明书

【技术领域】

本发明涉及大功率激光芯片的老化技术领域，特别涉及一种大功率芯片老化机。

【背景技术】

为了保证芯片使用的可靠性和稳定性，通常需要对芯片进行老化处理。针对大功率芯片的老化处理，目前市面上还没有专门的老化设备，即使存在一些具有类似功能的老化设备，也无法达到多通道集中老化的效果，并且会存在老化温度不稳定，不适用于多种规格芯片等问题。

【发明内容】

为了克服上述问题，本发明提出一种可多通道集中恒温老化的大功率芯片老化机。

本发明解决上述技术问题提供的一种技术方案是：提供一种大功率芯片老化机，包括外框架，所述外框架的内部上方设置有控制系统，控制系统通过螺栓与外框架固定连接，用于控制老化机的运行，所述外框架的下方推拉式设置有多个恒温老化装置，大功率芯片装载于所述恒温老化装置进行老化处理，所述恒温老化装置呈矩阵式排布于外框架内，每一恒温老化装置外部设置把手，恒温老化装置安装完成时通过螺栓与外框架固定连接。

优选地，所述恒温老化装置包括至少一水循环散热板、多个测试探针升降台、多个恒温夹具平台、多个大功率电源模块和控制器模块，水循环散热板上表面设置多个测试探针升降台、多个恒温夹具平台和多个大功率电源模块，测试探针升降台、恒温夹具平台、大功率电源模块和控制器模块通过螺栓与水循环散热板紧固连接。

优选地，所述恒温夹具平台内设置有加热系统，加热系统、水循环散热板均与控制器模块电连接，加热系统与水循环散热板相互配合，保持老化温度恒定。

优选地，所述恒温夹具平台设置多个载板，用于装载待测芯片，测试探针升降台设置多个探针，探针的位置与载板的位置相对应。

优选地，所述载板与恒温夹具平台可拆卸式连接。

优选地，所述多个大功率电源模块前端对应设置多个测试探针升降台，测试探针升降台与大功率电源模块电连接。

优选地，所述多个测试探针升降台前端对应设置多个恒温夹具平台。

优选地，所述外框架采用钢结构焊接而成。

优选地，所述外框架底部四角分别设置有支撑腿。

优选地，所述支撑腿内侧设置有活动轮。

与现有技术相比，本发明的大功率芯片老化机的外框架下方推拉式设置有多个恒温老化装置，操作方便，可实现大功率芯片的多通道集中恒温老化，大大提高了生产效率；载板与恒温夹具平台可拆卸式连接，便于更换，可以兼容多种不同规格的芯片进行老化，适用性强；恒温夹具平台内还设置有加热系统，加热系统、水循环散热板均与控制器模块电连接，加热系统与水循环散热板相互配合，保持老化温度恒定，利于提高老化效果。

【附图说明】

图1为本发明一种大功率芯片老化机的立体结构图；

图2为本发明一种大功率芯片老化机的恒温老化装置立体结构图。

【具体实施方式】

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施实例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅限于指定视图上的相对位置，而非绝对位置。

另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

请参阅图1，本发明的一种大功率芯片老化机，包括一外框架10，所述外框架10的内部上方设置有控制系统20，控制系统20通过螺栓与外框架10固定连接，用于控制老化机的运行。所述外框架10的下方推拉式设置有多个恒温老化装置30，大功率芯片装载于所述恒温老化装置30进行老化处理。所述恒温老化装置30呈矩阵式排布于外框架10内，每一恒温老化装置30外部设置把手，方便推拉取放大功率芯片，恒温老化装置30安装完成时通过螺栓与外框架10固定连接。所述外框架10底部四角分别设置有支撑腿40，利于老化机位置固定，稳定工作。每一支撑腿40内侧设置有活动轮50，便于老化机移动，方便运输。所述外框架10采用钢结构焊接而成，强度高，质感好，使用寿命长。