[发明专利]一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法

权利要求书

1.一种通过中央处理器内部环路来校准晶体频偏的方法，其特征在于，所述中央处理器包括内部环路和晶体电路；所述方法包括：

步骤S1、所述中央处理器向所述晶体电路输出震荡激励信号；

步骤S2、所述晶体电路根据所述震荡激励信号产生一时钟信号；

步骤S3、所述内部环路通过设置在所述中央处理器上的一输出端口输出所述时钟信号；

步骤S4、采用一频率计，所述频率计连接所述输出端口，所述频率计接收所述时钟信号并对所述时钟信号进行测试以得到测试结果，测试者根据所述测试结果判断所述时钟信号的偏差是否合格：

若判断结果为是，随后退出；

若判断结果为否，则所述测试者对所述晶体电路进行调节，随后转步骤S4。

2.根据权利要求1的方法，其特征在于，所述晶体电路包括：

一无源晶振，所述无源晶振的第一引脚用于向所述内部环路输入所述时钟信号，所述无源晶振的第三引脚用于接收所述中央处理器输出的所述震荡激励信号，所述无源晶振的第二引脚和第四引脚分别接地；

一第一电阻，所述无源晶振的第三引脚和第四引脚之间并联所述第一电阻；

一第二电阻，所述无源晶振的第三引脚通过所述第二电阻连接所述内部环路；

一第一电容，所述无源晶振的第一引脚通过所述第一电容接地；

一第二电容，所述无源晶振的第三引脚通过所述第二电容接地。

3.根据权利要求2的方法，其特征在于，所述第一电容与所述中央处理器的地直连；

所述第二电容与所述中央处理器的地直连。

4.根据权利要求2的方法，其特征在于，所述步骤S4中，所述测试者对所述晶体电路进行调节的具体步骤为：

S4a、分别调节所述第一电容和/或所述第二电容的电容值。