[发明专利]一种测试PCIE卡热插拔功能的测试方法在审

专利信息
申请号: 201711302963.7 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN108052428A 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 孙炳亮 申请(专利权)人: 郑州云海信息技术有限公司
主分类号: G06F11/263 分类号: G06F11/263;G06F11/22
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 张亮
地址: 450000 河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 pcie 卡热插拔 功能 方法
【权利要求书】:

1.一种PCIE卡热插拔功能的测试方法,其特征在于:利用主板中的BMC模块给系统下发命令,通过软件模拟热插拔测试流程,来测试热插拔功能。

2.根据权利要求1所述一种PCIE卡热插拔功能的测试方法,其特征在于:该方法中还收集各个插拔动作PLX芯片中寄存器状态。

3.一种PCIE卡热插拔功能的测试方法,其特征在于:包括如下步骤,1)首先根据PCIE卡槽位对应的PCIE switch芯片所在BDF,查看对应槽位热插拔相关寄存器的状态;2)根据bmc提供cmd接口实现热插拔流程中单步工作。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤2)进一步包括插入流程和拔出流程。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:步骤2)中的插入流程包括插入按钮、BMC的控制释放。

6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:步骤2)中的拔出流程包括删除按钮、删除MRL和prsnt、BMC的控制释放。

7.一种计算机可读介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行以实现所述权利要求1-6任一项所述的方法。

8.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序以实现权利要求1-6任一项所述的方法。

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