[发明专利]FPGA布线覆盖率测试方法有效
申请号: | 201711278984.X | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN108051729B | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 褚惠芬;孙浩涛;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 | 申请(专利权)人: | 西安智多晶微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/3185 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | fpga 布线 覆盖率 测试 方法 | ||
1.一种FPGA布线覆盖率测试方法,其特征在于,包括:
在FPGA的IO接口输入测试信号;
根据不同的布线方式选取对应的预设路径;
根据所述布线方式以及所述预设路径分别将FPGA中的每行和每列基本逻辑单元进行布线;包括:
根据所述布线方式确定布线间隔;
根据所述预设路径确定第一预设路径和第二预设路径;
根据所述第一预设路径、所述第二预设路径和所述布线间隔将FPGA中的每行基本逻辑单元进行布线;具体包括:
从第X行第N列基本逻辑单元开始,根据所述第一预设路径和所述第二预设路径按照所述布线间隔将FPGA中的第X行基本逻辑单元进行布线,X的取值顺序为1~M依次执行;
从第X行第N-1列基本逻辑单元开始,根据所述第一预设路径和所述第二预设路径按照所述布线间隔将FPGA中的第X行基本逻辑单元进行布线,X的取值顺序为1~M依次执行;
其中,M为所述基本逻辑单元的行数,N为所述基本逻辑单元的列数;
根据所述第一预设路径、所述第二预设路径和所述布线间隔将FPGA中的每列基本逻辑单元进行布线;
读取所述IO接口的输出结果完成布线覆盖率测试。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述布线方式为6倍线布线或2倍线布线;相应地,所述6倍线布线方式的预设路径包括四条不同的所述预设路径,所述2倍线布线方式的预设路径包括八条不同的所述预设路径;其中,所述预设路径为FPGA的布线路径。
3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述基本逻辑单元包括查找表单元和路径选择单元。
4.根据权利要求3所述的测试方法,其特征在于,所述查找表单元和所述路径选择单元中均设置有布线开关矩阵。
5.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,根据所述布线方式确定布线间隔,包括:
6倍线布线方式确定的布线间隔为间隔5个所述基本逻辑单元;或者
2倍线布线方式确定的布线间隔为间隔1个所述基本逻辑单元;
其中,M为所述基本逻辑单元的行数,N为所述基本逻辑单元的列数。
6.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,根据所述第一预设路径和所述第二预设路径按照所述布线间隔将FPGA中的第X行基本逻辑单元进行布线,包括:
根据所述第一预设路径,从选取的首个所述基本逻辑单元开始,在水平方向依次间隔所述布线间隔后进行一次布线,到边界的所述基本逻辑单元后环回;
根据所述第二预设路径,从选取的首个所述基本逻辑单元开始,在水平方向依次间隔所述布线间隔后进行一次布线,到边界的所述基本逻辑单元后环回,完成所述第X行基本逻辑单元进行布线。
7.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,根据所述第一预设路径、所述第二预设路径和所述布线间隔将FPGA中的每列基本逻辑单元进行布线,包括:
从第1行第P列基本逻辑单元开始,根据所述第一预设路径和所述第二预设路径按照所述布线间隔将FPGA中的第P列基本逻辑单元进行布线,P的取值顺序为1~N依次执行;
从第2行第P列基本逻辑单元开始,根据所述第一预设路径和所述第二预设路径按照所述布线间隔将FPGA中的第P列基本逻辑单元进行布线,P的取值顺序为1~N依次执行;
其中,N为所述基本逻辑单元的列数。
8.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,根据所述第一预设路径和所述第二预设路径按照所述布线间隔将FPGA中的第P列基本逻辑单元进行布线,包括:
根据所述第一预设路径,从选取的首个所述基本逻辑单元开始,在垂直方向依次间隔所述布线间隔后进行一次布线,到边界的所述基本逻辑单元后环回;
根据所述第二预设路径,从选取的首个所述基本逻辑单元开始,在垂直方向依次间隔所述布线间隔后进行一次布线,到边界的所述基本逻辑单元后环回,完成所述第X行基本逻辑单元进行布线。
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