[发明专利]一种显示面板的检测方法及装置

说明书

本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法及装置，其中所述方法包括：获取多个显示面板在不同检测条件下进行检测的检测信息，其中所述检测信息包括多个显示面板信息、不同检测条件以及对应的检测结果；根据所述检测信息，从所述不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件；根据所述至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件调整检测参数，以便根据所述检测参数对待测显示面板缺陷进行检测。本发明实施例通过在至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件下，完成对显示面板缺陷的检测，提高了缺陷检测的准确性及检测效率。

技术领域

本发明涉及显示面板领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法及装置。

背景技术

近年来，随着光电技术与半导体制造技术快速发展，带动了平板显示技术的蓬勃发展，其中，液晶显示装置因具有体积小、重量轻及画质高等优点而被广泛应用于各种信息、通讯及消费性电子产品中。

随着液晶面板生产技术的发展，目前已进入大规模自动化生产时代。在液晶面板制造出来后，液晶面板可能会存在缺陷，如何准确快速的检测出液晶面板的缺陷就显得尤为重要。现有检测方法可通过加热液晶面板到一定温度后，以背光照射来检查缺陷，或者在模组后段通过人工对液晶面板来检测。然而，现有方法缺少外部环境因素对缺陷检测影响的考虑。由于每个生产厂区都具有自己的特性，各种环境因素都会影响检测的准确性，使得检测效率与检出良率低下。

发明内容

本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法及装置，以解决现有技术中各种环境因素影响显示面板缺陷检测准确性及检测效率低的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，包括：

获取多个显示面板在不同检测条件下进行检测的检测信息，其中所述检测信息包括多个显示面板信息、不同检测条件以及对应的检测结果；

根据所述检测信息，从所述不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件；

根据所述至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件调整检测参数，以便根据所述检测参数对待测显示面板缺陷进行检测。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，包括：

第一存储单元，用于获取多个显示面板在不同检测条件下进行检测的检测信息，其中所述检测信息包括多个显示面板信息、不同检测条件以及对应的检测结果；

数据处理单元，根据所述检测信息，从所述不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件；

控制器单元，用于根据所述至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件调检测参数，以便检测装置根据所述检测参数对待测显示面板缺陷进行检测。

本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法及装置，通过获取多个显示面板在不同检测条件下进行检测的检测信息，根据检测信息，从不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件，根据最佳检测条件调整检测设备的检测参数后，对待测显示面板进行缺陷检测，提高了显示面板缺陷检测的准确性以及检测效率。

附图说明

图1是本发明实施例一提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图2是本发明实施例一提供的多个显示面板在不同检测条件下的检测结果统计图；

图3是本发明实施例二提供的一种显示面板的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。