[发明专利]一种显示面板的检测方法及装置

权利要求书

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

获取多个显示面板在不同检测条件下进行检测的检测信息，其中所述检测信息包括多个显示面板信息、不同检测条件以及对应的检测结果；

根据所述检测信息，从所述不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件；其中，检测条件是根据不同的环境因素进行设定的；

根据所述至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件调整检测参数，以便根据所述检测参数对待测显示面板缺陷进行检测，其中检测参数为检测设备的参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述检测信息，从所述不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件，包括：

根据所述检测信息，将在不同检测条件下各缺陷的检测结果中检出数量最多的检测条件作为各缺陷对应的最佳检测条件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件存储在存储单元中，以便从存储单元中获取所述最佳检测条件调整终端设备的检测参数。

4.根据权利要求1-3任一所述的方法，其特征在于，所述检测条件包括：

检测环境温度、湿度、清洁度、检测平台的状态、检测平台内外框的状态、灯源种类或灯源状态、光学镜头的种类或状态中的一个或多个条件的任意组合设置。

5.一种显示面板的检测装置，其特征在于，包括：

第一存储单元，用于获取多个显示面板在不同检测条件下进行检测的检测信息，其中所述检测信息包括多个显示面板信息、不同检测条件以及对应的检测结果；

数据处理单元，根据所述检测信息，从所述不同检测条件中获取显示面板的至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件；其中，检测条件是根据不同的环境因素进行设定的；

控制器单元，用于根据所述至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件调整检测参数，以便所述检测装置根据所述检测参数对待测显示面板缺陷进行检测，其中，检测参数为检测设备的参数。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述数据处理单元具体用于：

根据所述检测信息，将在不同检测条件下各缺陷的检测结果中检出数量最多的检测条件作为各缺陷对应的最佳检测条件。

7.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述第一存储单元还用于存储至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件；或者所述装置还包括：第二存储单元，用于存储至少一个缺陷各自对应的最佳检测条件。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，控制器单元可获取所述第二存储单元中的最佳检测条件。

9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

检测条件设置单元，用于接收控制器单元发送的调整检测参数命令，并设置检测环境温度、湿度、清洁度、检测平台的状态、检测平台内外框的状态、灯源种类或灯源状态、光学镜头的种类或状态。

10.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置为巨观检查机、微观检查机、自动光学检查机、边缘检查机、膜厚测量机、点灯检查机的其中之一。