[发明专利]电子器件邦定后的检测治具装置及使用方法在审

专利信息
申请号: 201711267419.3 申请日: 2017-12-05
公开(公告)号: CN107991517A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 巫孟良;郭宗训;陈彬 申请(专利权)人: 广东万濠精密仪器股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 厦门市新华专利商标代理有限公司35203 代理人: 吴成开,徐勋夫
地址: 523000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电子器件 邦定后 检测 装置 使用方法
【权利要求书】:

1.一种电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:包括有电控磁盘、以及治具压盖;该电控磁盘的表面为用于放置电子器件的平坦面,该治具压盖叠设于电控磁盘上,治具压盖的上下表面贯穿形成有通槽,通槽与平坦面彼此上下正对,且电控磁盘连接有控制器。

2.根据权利要求1所述的电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:所述电控磁盘与治具压盖的底面贴合,电控磁盘的外形轮廓与治具压盖的外形轮廓略同。

3.根据权利要求1所述的电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:所述通槽为并排设置的多个,相邻两通槽之间形成有压条。

4.根据权利要求1所述的电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:所述治具压盖为导磁性金属。

5.一种如权利要求1至4任一项所述的电子器件邦定后的检测治具装置的使用方法,其特征在于:包括有以下步骤:

(1)将电子器件置于电控磁盘的平坦面上,并盖住治具压盖,利用治具压盖压住电子器件;

(2)由控制器控制对电控磁盘通电,使电控磁盘产生磁力,以将治具压盖和电子器件吸附在电控磁盘的平坦面上;

(3)透过通槽对电子器件进行邦定和检测;

(4)邦定和检测完成后,由控制器控制对电控磁盘断电,以对电控磁盘进行消磁,然后打开治具压盖,将电子器件从电控磁盘上取出。

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