[发明专利]电子器件邦定后的检测治具装置及使用方法在审
申请号: | 201711267419.3 | 申请日: | 2017-12-05 |
公开(公告)号: | CN107991517A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 巫孟良;郭宗训;陈彬 | 申请(专利权)人: | 广东万濠精密仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 厦门市新华专利商标代理有限公司35203 | 代理人: | 吴成开,徐勋夫 |
地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子器件 邦定后 检测 装置 使用方法 | ||
1.一种电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:包括有电控磁盘、以及治具压盖;该电控磁盘的表面为用于放置电子器件的平坦面,该治具压盖叠设于电控磁盘上,治具压盖的上下表面贯穿形成有通槽,通槽与平坦面彼此上下正对,且电控磁盘连接有控制器。
2.根据权利要求1所述的电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:所述电控磁盘与治具压盖的底面贴合,电控磁盘的外形轮廓与治具压盖的外形轮廓略同。
3.根据权利要求1所述的电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:所述通槽为并排设置的多个,相邻两通槽之间形成有压条。
4.根据权利要求1所述的电子器件邦定后的检测治具装置,其特征在于:所述治具压盖为导磁性金属。
5.一种如权利要求1至4任一项所述的电子器件邦定后的检测治具装置的使用方法,其特征在于:包括有以下步骤:
(1)将电子器件置于电控磁盘的平坦面上,并盖住治具压盖,利用治具压盖压住电子器件;
(2)由控制器控制对电控磁盘通电,使电控磁盘产生磁力,以将治具压盖和电子器件吸附在电控磁盘的平坦面上;
(3)透过通槽对电子器件进行邦定和检测;
(4)邦定和检测完成后,由控制器控制对电控磁盘断电,以对电控磁盘进行消磁,然后打开治具压盖,将电子器件从电控磁盘上取出。
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