[发明专利]共焦显微镜模式像差矫正装置有效

专利信息
申请号: 201711238228.4 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN107991235B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 刘辰光;赵唯松;刘俭;陈刚;王宇航;谭久彬 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学;北京锐驰恒业仪器科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/21
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 崔自京
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 显微镜 模式 矫正 装置
【权利要求书】:

1.共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:包括激光器(1)、双面45°反光镜(2)、分束镜(3)、半波片(4)、空间光调制器(5)、反射镜(6)、光阑(7)、偏振分束镜(8)、XY扫描振镜(9)、扫描透镜(10)、管镜(11)、物镜(12)、1/4波片(13)、收集透镜(15)、光纤小孔(16)和光电倍增管(17);

所述激光器(1)发出的激光经双面45°反光镜(2)的一侧反光镜面反射后途经分束镜(3)到达半波片(4),经半波片(4)调制后射入至空间光调制器(5),再经空间光调制器(5)调制后射回至分束镜(3),再经分束镜(3)反射至反射镜(6),然后经光阑(7)滤除高阶衍射杂光后射到双面45°反光镜(2)的另一侧反光镜面,经双面45°反光镜(2)再次反射后经过偏振分束镜(8)射至XY扫描振镜(9)上,然后经XY扫描振镜(9)反射至扫描透镜(10),再经过管镜(11)后经过1/4波片(12)偏振面翻转90°后被物镜(13)聚焦至的打在待测样品(14)上;聚焦后的光斑再从待测样品(14)上反射回物镜(13),经过1/4波片(12),偏振面再次翻转90°后依次经过、管镜(11)、扫面透镜(10)和XY扫描振镜(9),射在偏振分束镜(8)上,再经偏振分束镜(8)反射至收集透镜(15)并聚焦到光纤小孔(16),最后被光电倍增管(17)收集;

共焦显微系统的模式像差矫正装置的像差矫正方法:

步骤a、通过空间光调制器(5)调制,变换不同光波前形状,得到不同图像信息;

步骤b、通过不同图像信息,计算相应图像质量系数,计算得到液晶光调制器(5)使图像质量最优的调制状态;

步骤c、保持液晶光调制器(5)最优状态,得到更高图像质量的图像。

2.根据权利要求1所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的激光器(1)、偏振分束镜(8)、XY扫描振镜(9)、扫描透镜(10)、管镜(11)、物镜(12)和1/4波片(13)组成照明装置,所述的照明装置按照照明光传播方向依次为:激光器(1)、偏振分束镜(8)、XY扫描振镜(9)、扫描透镜(10)、管镜(11)、物镜(12)和1/4波片(13)。

3.根据权利要求1所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的偏振分束镜(8)、XY扫描振镜(9)、扫描透镜(10)、管镜(11)、物镜(12)、1/4波片(13)、收集透镜(15)、光纤小孔(16)和光电倍增管(17)组成探测装置,所述的探测装置按照照明光传播方向依次为:1/4波片(13)、物镜(12)、管镜(11)、扫描透镜(10)、XY扫描振镜(9)、偏振分束镜(8)、收集透镜(15)、光纤小孔(16)和光电倍增管(17)。

4.根据权利要求1所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的双面45°反光镜(2)、分束镜(3)、半波片(4)、空间光调制器(5)、反射镜(6)、光阑(7)组成像差矫正装置,所述的像差矫正装置按照照明光传播方向依次为:双面45°反射镜(2)、分束镜(3)、半波片(4)、空间光调制器(5)、反射镜(6)和光阑(7)。

5.根据权利要求1~4任意一项所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的激光器(1),所发射激光应为偏振方向为水平方向的线偏振光。

6.根据权利要求5所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的空间光调制器(5)为完全相位调制型,其光轴为垂直方向,并且其调制中心对准激光的光轴中心。

7.根据权利要求5所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的半波片(4)的快轴与激光偏振方向呈45°或135°,使激光通过半波片后偏振方向与空间光调制器光轴平行。

8.根据权利要求5所述的共焦显微镜模式像差矫正装置,其特征在于:所述的光阑(7)通过中心光斑,隔离其他高级衍射光。

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