[发明专利]一种全彩色平面排列的Micro-LED阵列制备方法在审
申请号: | 201711229969.6 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN107994047A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 王智勇;兰天 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/00 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 | 代理人: | 张立改 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 彩色 平面 排列 micro led 阵列 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于半导体技术领域,具体涉及一种红、绿、蓝全彩色平面排列的Micro-LED阵列的制备方法。
背景技术
LED作为一种全固态的主动发光器件,以其诸多的性能优势而广泛应用于照明以及显示屏领域,如功耗低、亮度高、寿命长、性能稳定等。而以LED光源为基础的LED显示屏越来越受到全世界的广泛的关注。全彩色LED显示屏通常由RGB三基色(红、绿、蓝)显示单元按照一定排列方式装配而成,靠控制每组发光单元的亮灭来显示色彩丰富、饱和度高、显示频率高的动态图像。但全彩色的LED显示屏的制作过程很繁琐,通常需在显示面板上嵌入上万颗LED光源,对每颗LED的波长、寿命、效率的一致性要求很高,因而造成其生产成本高、生产效率低,导致最终LED显示屏的可靠性低大大降低。而且LED显示屏的最终尺寸又受到单颗LED发光单元大小尺寸的制约,在近距离观测时色差尤其明显,因此在实现高集成化和高分辨率上存在较大的难度。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明目的在于提出一种全彩色平面排列的Micro-LED阵列的制备方法,采用MOCVD外延技术与芯片刻蚀技术相结合的方式,在同一外延衬底上外延发光单元(包括红光发光单元(630nm)、绿光发光单元(520nm)、蓝光发光单元(450nm)三种),再利用芯片刻蚀技术形成高集成度的微小二维矩阵,且每个发光单元的尺寸可能在保证器件性能的前提下尽可能缩小,从而有效解决目前LED显示屏中单颗发光单元尺寸较大,无法高度集成装配,导致的屏幕分辨率较低的难题。
本发明为实现以上目的,采用的技术方案如下:
本发明一种全彩色平面排列的Micro-LED阵列制备方法,其特征在于,全彩色Micro-LED阵列包括导电衬底、发光单元、栅格状隔离结构、金属电极区,发光单元包括红光发光单元(630nm)、绿光发光单元(520nm)、蓝光发光单元(450nm),所述红、蓝、绿三种发光单元每一种法官单元本身为列式排布,红、蓝、绿三种发光单元列又采用平面交叉间隔排列方式,所述的红光发光单元结构自下而上包括GaAs缓冲层、n型AlGaAs/AlAs的DBR、n型AlGaInP下限制层、多量子阱发光区、p型AlGaInP上限制层、p型GaP电流扩展层。所述的蓝、绿光发光单元结构自下而上包括AlN缓冲层、GaN缓冲层、n型GaN包层、多量子阱发光区、p型AlGaN上限制层、p型GaN接触层。每个发光单元表面覆盖利用电子束蒸镀技术制备的ITO透明电极,作为p侧的欧姆接触电极。所述栅格状隔离结构,为SiO2或者SiNx的凸起薄膜形成的栅格结构,每个栅格内均分布一个发光单元,栅格状隔离结构将发光单元的侧面均隔离开来;栅格状隔离结构首先通过PECVD方式在所述导电衬底上沉积厚度为1um~2um的SiO2或者SiNx薄膜,再利用干法ICP刻蚀出栅格状隔离结构,栅格底部中裸露出所述导电衬底,作为每个发光单元的外延窗口。所述金属电极区,沿发光单元列的方向,相邻两列发光单元之间均设有金属电极,金属电极利用电子束蒸镀法在SiO2或者SiNx凸起薄膜的栅格状隔离结构上蒸镀金属铝(Al),在相邻两发光单元之间的金属电极用SiO2钝化层覆盖在除p侧电极引线区域以外的区域以,在边缘的金属电极除电流注入区之外用SiO2钝化层覆盖。
全彩色平面排列的Micro-LED阵列外延制备方法由以下步骤实现:
(1)选取一种导电衬底,该衬底可以是硅、碳化硅、氮化镓或者砷化镓;
(2)在所述导电衬底上,采用PECVD方法沉积厚度为1um~2um的SiO2或者SiNx薄膜;
(3)利用干法ICP刻蚀方法,将所述导电衬底表面沉积的SiO2或者SiNx薄膜刻蚀到衬底表面,裸露出生长红光发光单元所需的外延窗口;
(4)严格清洗所述导电衬底后,放入红光MOCVD中,在H2环境下高温处理衬底表面,去掉表面吸附的水、氧,之后开始生长红光发光单元的外延结构,自下而上分别为GaAs缓冲层、n型AlGaAs/AlAs的DBR、n型AlGaInP下限制层、AlGaInP/GaInP多量子阱发光区、p型AlGaInP上限制层、p型GaP电流扩展层;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的