[发明专利]晶圆承载盘维修方法有效

专利信息
申请号: 201711217561.7 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN109841556B 公开(公告)日: 2020-11-03
发明(设计)人: 颜天渊 申请(专利权)人: 桦榆国际有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/687;H01L21/02
代理公司: 北京维澳专利代理有限公司 11252 代理人: 王立民;张应
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 承载 维修 方法
【说明书】:

发明提供了一种能延长晶圆承载盘使用寿命的晶圆承载盘维修方法,包括下列步骤:检测步骤:在每次MOCVD磊晶制程后,对晶圆承载盘进行检测作业,检查是否存在损伤;判断步骤:判断损伤是否有发生石墨底材裸露的状况;以及修补步骤:针对判断结果,在损伤处设置相应并具有纯硅的修补对象,紧接着置入真空高温炉,加热至硅熔点以上的温度,保持一段时间,让纯硅转为液相硅,渗透入损伤处反应生长出碳化硅,与原有的碳化硅镀层合为一体,让晶圆承载盘恢复到不会被氨气侵蚀的状态,能重新投入制程继续使用。

技术领域

本发明涉及一种晶圆承载盘维修方法,尤其涉及一种应用于有机金属化学气相沉积(Metal Organic Chemical Vapor Deposition,简称MOCVD)磊晶炉的晶圆承载盘(susceptor,wafer carrier or substrate holder)的维修方法。

背景技术

近年来氮化镓(GaN)系列化合物半导体材料,已经被成功应用于发光二极管(Light Emitting Diode,简称LED)照明,并将成为新一代5G行动通讯系统中,不可或缺的高频与大功率微波电子组件,未来氮化镓(GaN)电子组件若能大量应用于电力转换设备上,还可在每个变电环节,减少电能耗损,堪称最具发展潜力的第三代半导体材料,而目前商品化的氮化镓(GaN)系半导体光电组件,大都是以MOCVD磊晶技术制作。

LED芯片的良率,是由其发光波长的均匀性所决定,MOCVD磊晶炉为了精确调控LED磊晶圆发光波长的均匀性,其晶圆承载盘需配合加热器,提供一优化晶圆温度均匀性,以沉积高质量的磊晶层,故晶圆承载盘为MOCVD磊晶炉中,非常重要的一个组件,同时也是LED磊晶厂的主要耗材之一。

如图1A、1B和图2A、2B所示,晶圆承载盘100不管是单片式或是多片式的型式,其两者的承载盘本体,通常会采用石墨材料来制作,并在顶面设置对应数量的口袋(pocket)110,参阅图1A和图2A,以承载晶圆200;底面中心则有一转轴孔120,参阅图1B和图2B,用于支撑与旋转承载盘,而整个表面上会再利用CVD法,镀一层70至120μm厚度的碳化硅镀层20,参阅图3。

其中,碳化硅镀层20的主要功能如下所示:

第一点:保护石墨底材10免于被MOCVD磊晶制程中的氨气(NH3)反应气体侵蚀;碳化硅材料具有极佳的高温化学稳定性,且CVD碳化硅镀层20是一致密的气相生长多晶膜,在石墨底材10表面镀碳化硅后,能有效隔绝MOCVD制程气体。

第二点:石墨底材10在高温下容易大量放气(outgassing),释出的气体会污染MOCVD制程反应气氛,降低磊晶层质量,石墨制的晶圆承载盘100镀上碳化硅镀层20密封后,可有效防止此放气现象。

第三点:提高石墨制的晶圆承载盘100,其热传性质,由于碳化硅的热传导与热辐射系数皆高于石墨,在石墨底材10表面镀上一层碳化硅可获得较佳的盘面均温性。

第四点:由于石墨底材10的材料特性,表面易于剥离产生粉尘,会对磊芯片造成微粒(particle)污染,以CVD碳化硅镀膜后形成高硬度耐磨表层,不易产生微粒。

承载盘在使用过程中,会经常性地遭受到外力撞击,可能来自于搬运过程,上下料或人为意外碰撞,但最主要的撞击因素,还是来自于晶圆200的碰撞,况且当前LED磊晶的晶圆200,为蓝宝石晶圆(Sapphire(Al2O3)Wafer),非常坚硬;撞击的问题,尤其常见于高转速型的MOCVD磊晶炉之中,其晶圆承载盘100的转速,高达每分钟1000转,机台在启动与停止的过程当中,由于惯性力的作用,坚硬的蓝宝石制的晶圆200,经常会被甩动,撞击晶圆承载盘100的口袋(Pocket)110的侧壁或边缘,造成碳化硅镀层20出现一些损伤,例如:裂纹a或缺角e,请参阅图3;更严重的是,新一代大型的磊晶炉,其晶圆承载盘100的外径约700mm,强大的离心力,使得晶圆200的撞击力更大,破坏力更强。

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