[发明专利]一种紫外LED器件测试装置及测试方法

说明书

本发明公开紫外LED器件测试装置，包括能分别与测试台紧密连接而罩住紫外LED器件的第一荧光罩和第二荧光罩，第一荧光罩与第二荧光罩的激发谱和发射谱均不相同；能测出从第一荧光罩和第二荧光罩射出光的光参数的光参数测试仪。本发明还公开采用上述测试装置的测试方法，包括如下主要步骤：A：第一荧光罩罩住紫外LED器件；B：测第一荧光罩射出光的光功率P1；C：断电并将第二荧光罩罩住紫外LED器件；D：测第二荧光罩射出光的光功率P2；E：根据激发谱及P1/R1＝P2/R2、W2＝W3确定紫外LED器件波长W1，R1为第一荧光罩在波长值为W2时的激发响应度，R2为第二荧光罩在波长值为W3时的激发响应度。本测试装置操作方便，采用本发明测试方法不会对人体造成伤害。

【技术领域】

本发明涉及一种紫外LED器件测试装置，本发明还涉及一种紫外 LED器件测试方法。

【背景技术】

紫外线是指波长从10nm至400nm的电磁波谱中辐射的总称，一般不能引起人们的视觉察觉，其可以用来灭菌，但是过多的紫外线照射会对人体造成皮肤癌等巨大伤害。目前紫外光广泛应用于油墨固化、杀菌消毒、精密光刻、药物分析、生物医疗等诸多领域，因此减少控制紫外线对人体的伤害极具必要。

随着半导体技术的进步，发光波长在200nm至400nm的紫外LED 器件具有高效率、长寿命、低成本、波长可控、体积小、无污染、易于二次光学设计等诸多优点，将逐步取代传统的汞灯、氙灯、金属卤化物灯等紫外光源。但由于紫外LED器件基于半导体外延芯片制造工艺生产，其电流电压、发光波长及发光强度是在一定的区间内分布，因此在实际应用时需要对紫外LED器件进行测试和分选，从而保证同一型号产品的参数一致性。但随着紫外LED发光波长越来越短、出光功率越来越大，且特别是应用在固化、曝光等领域的紫外光源其单颗器件功率可达10W以上，而紫外LED器件在测试工序中需要模拟产品使用条件，少量的紫外光泄漏即可能对人体产生巨大的伤害。高能量的紫外光泄漏加上长期的紫外光暴露环境将会严重威胁生产员工的身体健康。目前的传统测试方法正是直接点亮紫外LED器件采用光参数测试仪收光、测试，紫外光泄露大，严重危害测试人员的身体健康。

因此，本发明正是基于以上的不足而产生的。

【发明内容】

本发明目的是克服了现有技术的不足，提供一种结构简单，操作方便，在对紫外LED器件测试时能够防止紫外光泄露的紫外LED器件测试装置。

本发明还涉及一种操作方便，在测试紫外LED器件时能防止紫外光危害身体健康的紫外LED器件测试方法

本发明是通过以下技术方案实现的：

一种紫外LED器件测试装置，其特征在于：包括：

用于夹持安装紫外LED器件10的测试台1；

能分别与测试台1紧密连接而罩住紫外LED器件10的第一荧光罩2和第二荧光罩3，并且第一荧光罩2与第二荧光罩3的激发谱和发射谱均不相同；

能测出从第一荧光罩2和第二荧光罩3射出光的光参数的光参数测试仪4；

与测试台1连接而能测出紫外LED器件10的电参数的电参数测试仪5；

所述的紫外LED器件10包括紫外LED外延片或紫外LED芯片或紫外LED封装芯片或紫外LED灯，所述的紫外LED器件10的波长为200nm至400nm，所述的第一荧光罩2和第二荧光罩3的发射主波长范围分别为400nm至780nm，所述的第一荧光罩2和第二荧光罩3采用的荧光粉包括硅酸盐、铝酸盐、氮化物或氧化物。

如上所述的紫外LED器件测试装置，其特征在于：所述的测试台 1上设有用于夹持紫外LED器件10并能根据紫外LED器件10的尺寸规格进行更换的夹具6。