[发明专利]一种紫外LED器件测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种紫外LED器件测试装置，其特征在于：包括：

用于夹持安装紫外LED器件(10)的测试台(1)；

能分别与测试台(1)紧密连接而罩住紫外LED器件(10)的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)，并且第一荧光罩(2)与第二荧光罩(3)的激发谱和发射谱均不相同；

能测出从第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)射出光的光参数的光参数测试仪(4)；

与测试台(1)连接而能测出紫外LED器件(10)的电参数的电参数测试仪(5)；

所述的紫外LED器件(10)包括紫外LED外延片或紫外LED芯片或紫外LED封装芯片或紫外LED灯，所述的紫外LED器件(10)的波长为200nm至400nm，所述的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)的发射主波长范围分别为400nm至780nm，所述的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)采用的荧光粉包括硅酸盐、铝酸盐、氮化物或氧化物。

2.根据权利要求1所述的紫外LED器件测试装置，其特征在于：所述的测试台(1)上设有用于夹持紫外LED器件(10)并能根据紫外LED器件(10)的尺寸规格进行更换的夹具(6)。

3.根据权利要求1或2所述的紫外LED器件测试装置，其特征在于：所述的光参数测试仪(4)包括用于收集从第一荧光罩(2) 和第二荧光罩(3)射出光的光收集装置(41)及与光收集装置(41)连接的光谱仪(42)，所述光收集装置(41)包括积分球、光纤或光探测器。

4.根据权利要求2所述的紫外LED器件测试装置，其特征在于：还包括能根据测得的光电参数而将紫外LED器件(10)进行分类的分选部件(7)。

5.一种紫外LED器件的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

A：将待测的紫外LED器件(10)固定到测试台(1)上；

B：将第一荧光罩(2)紧密罩住紫外LED器件(10)；

C：给紫外LED器件(10)提供电流而驱动其发光；

D：通过光参数测试仪(4)测得第一荧光罩(2)射出的光的光功率P1；

E：对紫外LED器件(10)断电，移除第一荧光罩(2)，将第二荧光罩(3)紧密罩住紫外LED器件(10)，所述的第一荧光罩(2)与第二荧光罩(3)的激发谱和发射谱均不相同；

F：给紫外LED器件(10)提供与步骤C中相同的电流而驱动其再次发光；

G：通过光参数测试仪(4)测得第二荧光罩(3)射出的光的光功率P2；

H：根据第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)的激发谱及需要满足的条件公式P1/R1＝P2/R2、W2＝W3来确定紫外LED器件(10)的波长W1值，得出紫外LED器件(10)的波长W1＝W2＝W3，并计算出紫外LED器件(10)的光功率P0＝P1/R1，其中，R1为第一荧光罩(2)在紫外LED器件(10)的波长值为W2时的激发响应度，R2为第二荧光罩(3)在紫外LED器件(10)的波长值为W3时的激发响应度。

6.根据权利要求5所述的紫外LED器件测试方法，其特征在于：所述的紫外LED器件(10)的波长为200nm至400nm，所述的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)的发射主波长范围分别为400nm至780nm，所述的第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)采用的荧光粉包括硅酸盐、铝酸盐、氮化物或氧化物。

7.根据权利要求5所述的紫外LED器件测试方法，其特征在于：所述的光参数测试仪(4)包括用于收集从第一荧光罩(2)和第二荧光罩(3)射出光的光收集装置(41)及与光收集装置(41)连接的光谱仪(42)，所述光收集装置(41)包括积分球、光纤或光探测器。

8.根据权利要求6所述的紫外LED器件测试方法，其特征在于：所述的测试台(1)上还电连接有能测出紫外LED器件(10)的电参数的电参数测试仪(5)。