[发明专利]一种动态偏摆仪校准方法

说明书

本发明涉及仪器校准领域，更具体地，涉及一种动态偏摆仪校准方法，包括以下步骤：S1：将规安装在振动台上，S2：安装被校偏摆仪，S3：安装激光测振仪，S4：开启振动台，S5：调节振动台的振幅为被校偏摆仪线性工作的中点，S6：振动台稳定工作后读取激光测振仪和被校偏摆仪的示值，S7：计算校准参数。解决了如何对动态偏摆仪进行动态校准的问题，解决了传统静态校准无法给出在一定转速下，动态偏摆仪示值的溯源问题。

技术领域

本发明涉及仪器校准领域，更具体地，涉及一种动态偏摆仪校准方法。

背景技术

机床主轴回转精度是衡量机械系统性能的重要指标，是影响机床工作精度 的主要因素之一。在PCB印刷电路板工业的钻孔过程中，10％-15％的报废品与不 良品是由PCB钻孔机床主轴的动态偏摆引起的，因此需要实时对主轴的偏摆量 进行监测。主轴的动态偏摆是将主轴运转到工作转速时测得其径向跳动量，通 过测量主轴表面的径向跳动量可以知道主轴运转是否正常以及是否做主轴维修 保养，这和用千分表所做的测量有很大的差异，因静态偏摆和动态偏摆特性是 不相关的。

现有的动态偏摆仪分为两种，一种是利用光学的方法，能够实现高精度的 数控机床主轴的振动测量，其直径检测公差能达到±0.1mm；另一种是采用电容 式位移传感器技术，测量主轴在不同转速下的偏摆误差。

现有技术中是将标准偏心轴置于偏摆检查仪的两顶针间，转动测量手表， 读取千分表示值的最大变动量，记录此量作为标准偏心轴的偏摆量标称值，再 将被检动态偏摆仪安装于测量位置，转动标准偏心轴，读取被检仪器示值，该 值与标称值做比较。但是由于采用被检动态偏摆仪与偏摆检查仪做比较的方法， 前者属于静态测量的范畴，后者属于动态测量的范畴，其测得的数据两者没有 可比性。

发明内容

本发明为克服上述现有技术所述的至少一种缺陷，提供一种动态偏摆仪校 准方法，解决了如何对动态偏摆仪进行动态校准的问题，解决了传统静态校准 无法给出在一定转速下，动态偏摆仪示值的溯源问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案是：一种动态偏摆仪校准方 法，包括以下步骤：

S1：将规安装在振动台上；

S2：安装被校偏摆仪；

S3：安装激光测振仪；

S4：开启振动台；

S5：调节振动台的振幅为被校偏摆仪线性工作的中点；

S6：振动台稳定工作后读取激光测振仪和被校偏摆仪的示值；

S7：计算校准参数。

进一步的，在步骤S1中，将标准针规安装在安装平台上，安装平台设于标 准振动台上。

进一步的，步骤S2中，对于光学原理的动态偏摆仪，将标准针规安装到偏 摆仪测量的合适位置，将动态偏摆仪放置在XYZ轴手动位移微调平台上，根据 被校偏摆仪的测量深度，调整被校偏摆仪相对于标准针规的位置；对于电容传 感器原理的动态偏摆仪，按照产品说明书安装电容传感器于合适位置。

其中，对于光学原理的动态偏摆仪，需要在光学动态偏摆仪与标准振动台 之间需要通过隔振垫块进行隔振，防止振动台影响光学动态偏摆仪的测量。

进一步的，步骤S3中，固定激光测振仪使得激光打到标准针规上。

进一步的，步骤S5中，通过动态信号分析仪分析采集安装平台振动频率， 将数据传输至功率功率放大器，通过调节功率放大器根据不同转速来调整振动 台的振动频率，使振动台提供恒幅稳定的正弦运动。

进一步的，步骤S7中，根据步骤S6中所读取的激光测振仪和被校偏摆仪 的示值计算参考点示值误差(μm)、频率响应特性、幅值线性度。