[发明专利]一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置

权利要求书

1.一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，包括多个SiPM，以及两表面附着有光导层的闪烁体，其特征在于：

还包括二维光纤层，其包括两层或更多层状的光纤层，该二维光纤层的两个维度的光纤层分开，并平铺在闪烁体的两表面上；或者该二维光纤层相互附着在闪烁体的任一表面上；

该二维光纤层的一端分别耦合在与其接触的闪烁体的光导层上，另一端分别耦合在线阵列的SiPM上；

另外的SiPM附着于闪烁体侧面提供光子计数的触发信号。

2.根据权利要求1所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：所述的二维光纤层为两层状的光纤层，分开平铺在闪烁体的两表面上。

3.根据权利要求1所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：所述的二维光纤层为两层状的光纤层，其相互附着在闪烁体的任一表面上。

4.根据权利要求3所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：其探测装置还包括一个同样的闪烁体；该两个闪烁体夹持所述的两层状的二维光纤层。

5.根据权利要求3所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：其探测装置还包括一个同样的二维光纤层，其相互附着在闪烁体的另一表面。

6.根据权利要求1至5任一所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：所述的二维光纤层的光纤可以使用普通光纤，也可以使用波移光纤。

7.根据权利要求6所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：所述的二维光纤层的两个维度层位置可互换。

8.根据权利要求7所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：所述的二维光纤层为X轴光纤层和Y轴光纤层，或者为X轴光纤层和z轴光纤层,或者为y轴光纤层和z轴光纤层。

9.根据权利要求8所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：在所述的闪烁体上，与二维光纤层接触的光导层至少为一层。

10.根据权利要求9所述的一种新型的γ光子高空间分辨率探测装置，其特征在于：所述的闪烁体可由碘化铯、碘化钠、硫化锌、锗酸铋、溴化镧、氯化镧、硅酸镥、硅酸镥钇、焦硅酸镥、硅酸钆、或者硅酸镥钆制成。