[发明专利]测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法

说明书

本发明涉及一种测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法，所述的测温装置还包括外部基准电阻和外部测量电阻，其中，所述的测温装置中的自动校准电路结构包括自动校准主控模块、测量模块、内部数据寄存模块、比较器模块、移位寄存模块和选择器模块，采用上述模块的相互连接，并采用实现测温装置的自动校准的方法，实现对所述的测温装置的校准。采用该测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法，能够通过对基准振荡次数的调整，在不更换基准电阻的基础上满足对所述的测温装置的校准，使测量的精度达到制造标准，有效提高效率、降低生产成本。

技术领域

本发明涉及检测领域，尤其涉及温度检测校准领域；具体是指一种测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法。

背景技术

电子测温设备在日常生活中得到了广泛的应用，如电子体温计，这些测温设备多数都采用一个基准电阻和热敏电阻相比较，来测试人体的温度，既然是基准电阻和热敏电阻，电阻就势必有误差，即使再高精度的电阻，因为工艺原因和材料的原因，也会有误差，误差会引起测试误差，而体温计的制造标准是精度要为±0.1℃，例如一个人的体温是36.7℃，但是实际测试为36.9℃或者是36.5℃，那么就超出制造标准，这款电子体温计就是不合格的。目前所有的电子体温计生产厂商在生产时，遇到电子体温计的精度超出制造标准时，采用的方法是替换基准电阻或者是热敏电阻的方法来进行调整，一次到多次电阻替换后，测量的精度满足制造标准为止，此种方法确实是有效可行的，但现有的这种技术，无形中增加了生产的成本，降低了生产效率，也降低了每日的产量，甚至有可能一次替换并不能换到合适的电阻，要替换两次以上才可以。

发明内容

本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种成本低且高效的测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法。

为了实现上述目的，本发明的测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法具体如下：

该测温装置中的自动校准电路结构，所述的测温装置还包括外部基准电阻和外部测量电阻，其主要特点是，

所述的自动校准电路结构包括自动校准主控模块、测量模块、内部数据寄存模块、比较器模块、移位寄存模块和选择器模块：

所述的自动校准主控模块分别与外部电源、所述的比较器模块和移位寄存模块相连接，，输出启动自动检测信号至所述的比较器模块和移位寄存模块，并接收所述的移位寄存模块输出的停止检测信号，用于设定所述的自动校准电路结构是否进入校准模式；

所述的测量模块与所述的外部基准电阻、外部测量电阻和内部数据寄存模块相连接，用于系统预置的测试环境温度实验时，以系统预置的振荡次数与温度的对应表为依据，存储所述的外部基准电阻对应的预置基准振荡次数X_RF，并测量所述的外部测量电阻对应的外部测量电阻的振荡次数X_RS，将所述的外部测量电阻的振荡次数X_RS输出至所述的内部数据寄存模块；

所述的内部数据寄存模块与比较器模块相连接，用于存储系统预置的振荡次数与温度的对应表，并以所述的系统预置的振荡次数与温度的对应表为依据，将所述的外部测量电阻的振荡次数X_RS转换为对应的当前测量温度值，输出所述的当前测量温度值至所述的比较器模块；

所述的比较器模块与所述的内部数据寄存模块和移位寄存模块相连接，用于将所述的当前测量温度值与所述的系统预置的测试环境温度下的实际温度值进行比较，所述的实际温度值预置于所述的比较器模块中，所述的实际温度值与所述的当前测量温度值均以二进制的形式进行比较，并输出所述的当前测量温度值与所述的实际温度值的比较结果至所述的移位寄存模块；

所述的移位寄存模块与所述的比较器模块和选择器模块相连接，根据所述的当前测量温度值与所述的实际温度值的比较结果发出移位信号，控制所述的选择器模块选择出的一个所述的预置的温度数值；