[发明专利]全二维气相色谱-飞行时间质谱分析环境样品中短链氯化石蜡的方法有效

专利信息
申请号: 201711092141.0 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN107884493B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 战楠;郭峰;田芹;饶竹 申请(专利权)人: 国家地质实验测试中心
主分类号: G01N30/02 分类号: G01N30/02;G01N30/72;G01N30/06;G01N30/08;G01N30/86
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 刘徐红
地址: 100037 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 二维 色谱 飞行 时间 谱分析 环境 样品 中短链 氯化石蜡 方法
【说明书】:

发明公开了一种全二维气相色谱‑飞行时间质谱分析环境样品中短链氯化石蜡的方法,属于分析测试技术领域。该方法包括如下步骤:1)环境样品中SCCPs的富集提取;2)采用全二维气相色谱‑电子轰击电离源‑低分辨飞行时间质谱仪检测;3)采用谱库检索和保留时间指数对样品中SCCPs组分定性;4)采用内标标准曲线法测定样品中SCCPs总量。所用前处理方法萃取效率高、净化效果好、适用范围广;所用仪器分析效率高、分离效果好、抗干扰能力强;定性方法快速、准确,可不依赖于标准物质;定量方法检出限低、灵敏度高、线性范围宽、重复性好,可满足实际环境样品中SCCPs的分析要求。

技术领域

本发明涉及一种环境样品中短链氯化石蜡的分析方法,具体涉及应用全二维气相色谱-飞行时间质谱分析环境样品中短链氯化石蜡的方法,属于分析测试技术领域。

背景技术

短链氯化石蜡(Short-chain chlorinated paraffins,简称为SCCPs),是一类人工合成的正构烷烃氯代衍生物,其碳链长度在10-13个碳之间,氯的质量分数通常在30-72%之间。由于SCCPs具有良好的工业属性,早在20世纪30年代,SCCPs就被广泛地应用于金属切割液、密封剂、粘合剂、涂料、阻燃剂等工业品中。然而,研究发现SCCPs在环境中相对稳定,不易降解,并表现出持久性、毒性、生物蓄积性和和长距离迁移等特性,其生产、使用和排放在美国、欧盟和日本等国相继受到了严格的控制。2017年,SCCPs正式被联合国环境署列入《关于持久性有机污染物的斯德哥尔摩公约》的附件中。

近年来,有关SCCPs的检测技术成为了国际上的研究热点之一。但是,目前国内外尚无公认的环境样品中SCCPs的标准分析方法。这主要由于SCCPs高度复杂,具有上千种SCCPs的同系物、异构体、对映和非对映体,且这些同族体之间理化性质相似,很难被现有的技术分离;同时,缺乏足够的分析参考物质,有限的SCCPs标准品不足以鉴定全部SCCPs单体;此外,对于基质复杂的环境样品,基质效应和一些与SCCPs性质相似的有机氯化物也会在一定程度上干扰SCCPs的测定。

对于环境样品中SCCPs的分析主要分为2个步骤:1)样品前处理;2)仪器分析。样品前处理一般包括提取和净化两个步骤,其目的是富集环境样品中SCCPs并在一定程度上去除干扰物。仪器分析方面,主要是借助一维气相色谱(GC)和不同检测器,特别是与质谱的联用。有报道采用气相色谱-电子捕获检测器法(GC-ECD)测定环境样品中SCCPs组分,该技术具有价格低廉、对于含氯化合物灵敏度高的特点,但是选择性和抗干扰能力较差,因此不适合检测复杂基质中的SCCPs组分。气相色谱-负化学源质谱法(GC-ECNI/MS)由于对SCCPs电离程度弱,所产生的碎片离子较少,因此具有较好的选择性和灵敏度,是目前分析SCCPs最常用的检测技术。但是,该方法严重依赖于SCCPs的氯含量,对于氯原子数小于5的SCCPs组分无法检测,而且需要反应气体,检测成本较高。此外,气相色谱-亚原子轰击-高分辨质谱(GC-MAB-HRMS)、碳骨架气相色谱法等也可用于SCCPs的检测,但由于设备普及度低、操作复杂,应用较少。总之,在一维色谱中,SCCPs总是以“手指状”的共流出峰出现,即使采用高分辨气相色谱柱,也无法较好地分离样品中SCCPs的同系物。并且,由于SCCPs特征峰在一维色谱上的保留时间段通常较宽,与SCCPs同时提取出来的其他有机氯化物会干扰SCCPs的分析检测,影响结果的准确性,因此为了保证测定准确,通常需要足够的净化步骤将干扰物与SCCPs分离或消除。可是,较多的净化步骤容易使样品中SCCPs受到损失,降低回收率,并且增加混入其他干扰物的风险。

发明内容

针对现有技术存在的问题,本发明旨在提供一种针对环境样品中SCCPs的分析方法,达到分离效果好、定性定量准确的技术要求,且所用仪器相对普及、操作相对简单。为达到上述技术要求,本发明采用的技术方案是:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家地质实验测试中心,未经国家地质实验测试中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711092141.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top