[发明专利]一种针对处理器的自动化测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种处理器测试技术，尤其涉及一种针对处理器的自动化测试方法。

背景技术

DVFS(Dynamic Voltage and Frequency System动态电压和频率系统，简称DVFS)是嵌入式系统中一个非常重要的部分，能够根据CPU(Central Processing Unit中央处理器，简称CPU)运行的频率动态调节供给内核的电压，达到节省功耗降低发热的目的。然而CPU运行频率和内核电压关系表格需要标定，通常都是芯片设计端给出一个参考范围值。受限于芯片流片工艺，个体差异等因素的影响。标定通常都是在实际平台上运行负载较重的程序，先给内核供给一个较大的，稳定的电压，然后逐步下探内核电压，直到死机或者异常出现。这样可以探明芯片在固定频率下，能稳定运行的下限电压。

但是，现有的测试技术需要手动输入命令确定频率、待标定的运行电压等操作，效率较低，并且容易误操作；标定过程需要较长时间，如果标定过程中碰到死机，需要人工再次重启继续标定，无法做到无人值守；由于操作需要人工完成，在多个平台上部署难度大，得到的结果具有局限性。

发明内容

针对上述问题，本发明提出了一种针对处理器的自动化测试方法，其中，包括：

步骤S1，进行测试准备；

步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；

步骤S3，以当前所述运行电压和所述时钟频率进行负载测试；

步骤S4，判断所述处理器进行当前所述负载测试时是否正常；

若是，则转向步骤S5；若否，则将当前所述运行电压提升一第一增长值并返回所述步骤S2；

步骤S5，记录当前所述时钟频率对应的通过所述负载测试的所述运行电压作为测试结果，并判断当前所述时钟频率是否达到上限；

若是，则结束；若否，则将当前所述时钟频率提升一第二增长值并返回所述步骤S2。

上述的自动化测试方法，其中，还包括：

步骤S6，重复所述步骤S1～S5获得多个所述测试结果，当多个所述测试结果不同时，取多个所述测试结果中每个所述时钟频率对应的所述运行电压中电压值最大的作为最终测试结果进行输出。

上述的自动化测试方法，其中，每个所述测试结果由不同的测试平台得到。

上述的自动化测试方法，其中，所述步骤S1包括：

步骤S11，加载并解析设置有测试数据的一配置文件；

步骤S12，初始化相关的测试数据的结构；

步骤S13，获取测试的初始的所述运行电压和所述时钟频率。

上述的自动化测试方法，其中，所述步骤S13中，从所述配置文件中获取首次测试的所述运行电压和所述时钟频率。

上述的自动化测试方法，其中，所述配置文件包括命令信息，测试周期信息，电压修改命令信息，和/或频率修改命令信息。

上述的自动化测试方法，其中，所述配置文件还包括处理器内核参数信息。

上述的自动化测试方法，其中，所述步骤S5中，结束时同时生成反映所述测试结果的结果文件。

有益效果：本发明提出的一种针对处理器的自动化测试方法，能够实现处理器的自动化测试，迅速、有效地获得处理器正常运行时时钟频率对应的运行电压，并且能够适用于多个平台。

附图说明

图1为本发明一实施例中针对处理器的自动化测试方法的步骤流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行进一步说明。

在一个较佳的实施例中，如图1所示，提出了一种针对处理器的自动化测试方法，其中，可以包括：

步骤S1，进行测试准备；

步骤S2，设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率；

步骤S3，以当前运行电压和时钟频率进行负载测试；

步骤S4，判断处理器进行当前负载测试时是否正常；

若是，则转向步骤S5；若否，则将当前运行电压提升一第一增长值并返回步骤S2；

步骤S5，记录当前时钟频率对应的通过负载测试的运行电压作为测试结果，并判断当前时钟频率是否达到上限；

若是，则结束；若否，则将当前时钟频率提升一第二增长值并返回步骤S2。