[发明专利]一种针对处理器的自动化测试方法在审
申请号: | 201711086977.X | 申请日: | 2017-11-07 |
公开(公告)号: | CN107908509A | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
发明(设计)人: | 曾涛;万勇 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 处理器 自动化 测试 方法 | ||
1.一种针对处理器的自动化测试方法,其特征在于,包括:
步骤S1,进行测试准备;
步骤S2,设置待测试的处理器的运行电压和时钟频率;
步骤S3,以当前所述运行电压和所述时钟频率进行负载测试;
步骤S4,判断所述处理器进行当前所述负载测试时是否正常;
若是,则转向步骤S5;若否,则将当前所述运行电压提升一第一增长值并返回所述步骤S2;
步骤S5,记录当前所述时钟频率对应的通过所述负载测试的所述运行电压作为测试结果,并判断当前所述时钟频率是否达到上限;
若是,则结束;若否,则将当前所述时钟频率提升一第二增长值并返回所述步骤S2。
2.根据权利要求1所述的自动化测试方法,其特征在于,还包括:
步骤S6,重复所述步骤S1~S5获得多个所述测试结果,当多个所述测试结果不同时,取多个所述测试结果中每个所述时钟频率对应的所述运行电压中电压值最大的作为最终测试结果进行输出。
3.根据权利要求2所述的自动化测试方法,其特征在于,每个所述测试结果由不同的测试平台得到。
4.根据权利要求1所述的自动化测试方法,其特征在于,所述步骤S1包括:
步骤S11,加载并解析设置有测试数据的一配置文件;
步骤S12,初始化相关的测试数据的结构;
步骤S13,获取测试的初始的所述运行电压和所述时钟频率。
5.根据权利要求4所述的自动化测试方法,其特征在于,所述步骤S13中,从所述配置文件中获取首次测试的所述运行电压和所述时钟频率。
6.根据权利要求4所述的自动化测试方法,其特征在于,所述配置文件包括命令信息,测试周期信息,电压修改命令信息,和/或频率修改命令信息。
7.根据权利要求6所述的自动化测试方法,其特征在于,所述配置文件还包括处理器内核参数信息。
8.根据权利要求1所述的自动化测试方法,其特征在于,所述步骤S5中,结束时同时生成反映所述测试结果的结果文件。
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