[发明专利]一种考虑自相关测量误差的Wiener过程可靠性分析方法有效
| 申请号: | 201711081216.5 | 申请日: | 2017-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN107862134B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
| 发明(设计)人: | 李军星;杨晓英;张志文;吕锋 | 申请(专利权)人: | 河南科技大学 |
| 主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F119/02 |
| 代理公司: | 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 | 代理人: | 孙笑飞 |
| 地址: | 471000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 考虑 相关 测量误差 wiener 过程 可靠性分析 方法 | ||
1.一种考虑自相关测量误差的Wiener过程可靠性分析方法,其特征在于,其步骤如下:
步骤一:从一批产品中随机地抽取m个试样投入试验,采集产品性能退化数据;
步骤二:根据Wiener过程描述产品的真实性能退化过程,建立考虑自相关测量误差的Wiener过程性能退化模型;
建立考虑自相关测量误差的Wiener过程性能退化模型的方法为:
所述考虑自相关测量误差的Wiener过程性能退化模型为:
其中,X(t)为初始退化量X(0)=0的产品在t时刻Wiener过程形式进行描述产品的真实性能退化过程,Y(t)表示产品在t时刻的测量得到的性能退化量;β为漂移系数,且N(·)为正态分布,μb和σb分别为漂移系数β的均值和标准差;Λ=Λ(t,θ)为关于时间t的连续严格单调增函数,θ为函数Λ=Λ(t,θ)中的未知参数;σ>0为扩散系数;B(Λ)为广义标准Wiener过程,令第i个试样在第j个时刻tij处的测试值Λij=Λ(tij,θ),i=1,2,...,m,j=1,2,...,ni;
对于测试时间B(Λi1)与性能退化增量之间相互独立,且B(Λi1)~N(0,Λi1),B(Λij)-B(Λi(j-1))~N(0,Λij-Λi(j-1));
测量误差ε(t)满足一阶自回归模型AR(1):
测量误差ε(t)的均值和协方差具有如下性质:
其中,为自相关系数,且随机误差σe为随机误差ei的标准差;γ0为自回归过程的二阶距,且
随机变量漂移系数β、广义标准Wiener过程B(·)和测量误差ε(t)相互独立;
步骤三:结合步骤一中得出的产品性能退化数据,利用似然函数对步骤二中得出的性能退化模型的未知参数进行估计;
步骤四:根据步骤三得出的估计的未知参数对产品的可靠性进行分析。
2.根据权利要求1所述的考虑自相关测量误差的Wiener过程可靠性分析方法,其特征在于,所述步骤一中采集产品性能退化数据的方法为:将m个试样投入试验中,对于第i个试样分别在ni个测试时刻处进行性能退化测量,记录得到相应的性能退化数据且退化值从而可以得到m个试样的性能退化数据y=(y1,y2,…,ym)T;其中,yij为第i个试样在第j个时刻tij处的测试性能退化值,i=1,2,...,m,j=1,2,...,ni,ni为第i个试样的测试时刻数。
3.根据权利要求1所述的考虑自相关测量误差的Wiener过程可靠性分析方法,其特征在于,采用基于退化数据分析的方法确定函数Λ的形式的具体过程为:针对m个试样的性能退化数据yij=y(tij)=Y(tij),yij为时刻tij处的测试性能退化值,tij为第i个试样在第j个时刻;首先得到试样的平均退化路径数据然后,采用相应的函数,如线性函数、指数函数或幂数函数,分别对平均退化路径数据进行拟合;最后采用拟合好的函数形式作为Λ的表达式。
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