[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法、电子设备、存储介质、系统

说明书

本发明提供一种天线覆盖性能评估方法，通过对测试终端进行衰耗处理，测试终端对天线面进行测试，根据天线面测试数据计算天线的实测辐射效率，根据实测辐射效率与理论辐射效率评估覆盖性能；本发明涉及一种天线覆盖性能评估系统；本发明利用由实测数据推导出的天线面峰值功率与天线馈入电功率的关系计算理论天线面峰值功率，利用由实测数据推导出的实测天线面峰值功率计算公式计算实测天线面峰值功率，根据理论天线面峰值功率和实测天线面峰值功率评估天线的覆盖面性能，本发明提出的天线面测试方法，解决了现有的常规天线测试方法无法评估天线真实覆盖性能的问题，不受周围环境影响，简单可靠，实用性强，可行性高，系统性强。

技术领域

本发明涉及通信领域，尤其涉及一种天线覆盖性能评估方法、电子设备、存储介质、系统。

背景技术

现有天线性能进行分析的常规方法包括驻波比测量、拔打测试、常规测试、后台话务指标、干扰指标，这些方法都未能定量描述天线的覆盖性能，现网中大量在用的天线，除了显性故障如驻波比不达标、互调干扰严重、明显的表面破损外，其真实的覆盖性能无从得知，天线的覆盖性能指标不合格，会对网络的信号质量造成影响，天线覆盖性能(辐射效率)不合格是造成基站越建越多，室内覆盖效果却越来越差的主要原因，现有的对信号在无线环境中传播的传播损耗的分析是基于奥村提出的自由空间电磁波传播损耗计算方法，此方法只能定量分析天线的覆盖能力，仅适用于覆盖远端，此方法的应用受制于以下三个因素：

因素一：当前无线基站的密度极大，站间距离极小，其单小区的有效覆盖面往往小于500米，所以无法应用奥村公式来定量分析基站小区的覆盖性能；

因素二：当考虑传播介质损耗时，虽然有各种各样的适用模型，但是实际覆盖环境中，存在信号的多径传播，信号的多径传播对天线覆盖能力的分析造成更大的影响；

因素三：覆盖环境多样化，现场人员没有能力确定覆盖环境需选用哪一种模型。

天线辐射效率取决于天线内部结构、振子、馈电线路的材料电性能、接口性能，应用奥村公式来定量分析基站小区覆盖性能的方法已不能满足现在的无线网络环境，因此急需一种能用在当前无线网络环境的天线覆盖性能测试方法。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种天线覆盖性能评估方法，通过对测试终端进行防辐射衰耗，测试终端对天线面进行测试，获得测试数据，利用由实测数据推导出的天线面峰值功率天线与馈入电功率的关系计算理论天线面峰值功率，利用由实测数据推导出的实测天线面峰值功率计算公式计算实测天线面峰值功率，根据理论天线面峰值功率和实测天线面峰值功率评估天线的覆盖面性能，本发明提出的天线面测试方法，解决了现有的常规天线测试方法无法评估天线真实覆盖性能的问题，不受周围环境影响，简单可靠，实用性强，可行性高，系统性强。

本发明提供一种天线覆盖性能评估方法，包括以下步骤：

衰耗处理，对测试终端进行衰耗处理；

天线面测试，所述测试终端对天线面进行测试，获得天线面测试数据；

覆盖性能评估，根据所述天线面测试数据计算天线的辐射效率，获得实测辐射效率，评估所述实测辐射效率与理论辐射效率，获得覆盖性能评估结果。

进一步地，所述步骤衰耗处理具体为将所述测试终端置于防辐射布袋中进行衰耗处理，获得防辐射衰耗。

进一步地，所述步骤天线面测试包括以下步骤：

水平测试，所述测试终端绕所述天线面一圈进行水平测试，获得水平测试数据；

垂直测试，所述测试终端沿所述天线面进行垂直测试，获得垂直测试数据。

进一步地，所述测试终端存储所述水平测试数据和所述垂直测试数据。

进一步地，所述步骤覆盖性能评估还包括以下步骤：