[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法、电子设备、存储介质、系统

权利要求书

1.一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于包括以下步骤：

衰耗处理，对测试终端进行衰耗处理；

天线面测试，所述测试终端对天线面进行测试，获得天线面测试数据；

覆盖性能评估，根据所述天线面测试数据计算天线的辐射效率，获得实测辐射效率，评估所述实测辐射效率与理论辐射效率，获得覆盖性能评估结果。

2.如权利要求1所述的一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于：所述步骤衰耗处理具体为将所述测试终端置于防辐射布袋中进行衰耗处理，获得防辐射衰耗。

3.如权利要求2所述的一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述步骤天线面测试包括以下步骤：

水平测试，所述测试终端绕所述天线面一圈进行水平测试，获得水平测试数据；

垂直测试，所述测试终端沿所述天线面进行垂直测试，获得垂直测试数据。

4.如权利要求3所述的一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于：所述测试终端存储所述水平测试数据和所述垂直测试数据。

5.如权利要求4所述的一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述步骤覆盖性能评估还包括以下步骤：

获取测试数据，获取所述测试终端存储的所述水平测试数据和所述垂直测试数据；

计算辐射效率，根据所述水平测试数据和所述垂直测试数据计算实测天线面峰值功率；

评估覆盖性能，计算天线的理论天线面峰值功率，判断所述理论天线面峰值功率与所述实测天线面峰值功率的差值是否大于阈值，是则判定天线的辐射效率不合格，否则判定天线的辐射效率合格。

6.如权利要求5所述的一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述步骤计算辐射效率具体为：分别获取所述水平测试数据和所述垂直测试数据的峰值功率，得到水平峰值功率和垂直峰值功率，获取所述防辐射衰耗，并根据实测天线面峰值功率计算公式计算所述实测天线面峰值功率，所述实测天线面峰值功率计算公式如下：

实测天线面峰值功率＝MAX(水平峰值功率，垂直峰值功率)+防辐射衰耗。

7.如权利要求5所述的一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于，所述计算天线的理论天线面峰值功率具体为：获取天线馈入电功率，并根据理论天线面峰值功率计算公式计算所述理论天线面峰值功率，所述理论天线面峰值功率计算公式如下：

理论天线面峰值功率＝天线馈入电功率-理论损耗。

8.一种电子设备，其特征在于包括：处理器；

存储器；以及程序，其中所述程序被存储在所述存储器中，并且被配置成由处理器执行，所述程序包括用于执行权利要求1-7任意一项所述的方法。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行如权利要求1-7任意一项所述的方法。

10.一种天线覆盖性能评估系统，其特征在于：包括衰耗处理装置、测试终端、后台，所述衰耗处理装置对所述测试终端进行衰耗处理，所述测试终端对天线面进行测试，获得天线面测试数据，所述后台根据所述天线面测试数据计算天线的辐射效率，获得实测辐射效率，并评估所述实测辐射效率与理论辐射效率，获得覆盖性能评估结果。

11.如权利要求10所述的一种天线覆盖性能评估系统，其特征在于：所述衰耗处理装置包括防辐射布袋，所述防辐射布袋对所述测试终端进行衰耗处理，获得防辐射衰耗。

12.如权利要求11所述的一种天线覆盖性能评估系统，其特征在于：所述天线面测试数据包括水平测试数据和垂直测试数据，所述测试终端包括存储模块，所述存储模块存储所述水平测试数据和所述垂直测试数据。

13.如权利要求12所述的一种天线覆盖性能评估系统，其特征在于：所述后台包括实测计算模块、理论计算模块、覆盖性能评估模块，所述实测计算模块获取所述存储模块存储的水平测试数据和垂直测试数据，并根据所述水平测试数据和所述垂直测试数据计算实测天线面峰值功率，所述理论计算模块获取天线馈入电功率，并根据所述天线馈入电功率计算理论天线面峰值功率，所述覆盖性能评估模块根据所述实测天线面峰值功率和所述理论天线面峰值功率评估天线的覆盖性能。