[发明专利]一种加速电路优化的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201711048112.4 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN109726413B 公开(公告)日: 2023-01-24
发明(设计)人: 吴玉平;陈岚;张学连;孙旭 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06F30/3308 分类号: G06F30/3308;G06F30/398
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 加速 电路 优化 方法 系统
【说明书】:

发明公开了一种加速电路优化的方法及系统,初始化待优化电路产生优选解集合,根据该优选解集合产生新的候选解集合,将候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的表征设计参数值与电路性能值的对应关系的宏模型,获得每个候选解相对应的电路性能值,根据每个候选解相对应的电路性能值,更新待优化电路的最优解以及优选解集合,当最优解满足预设设计指标时输出最优解,当最优解不满足所述预设设计指标时,继续根据更新的优选解集合产生新的候选解集合,直至得到的最优解满足预设设计指标。因此,本发明通过将创建的宏模型应用于评测候选解相对应的电路性能值加速了候选解的电路性能值的获取,从而缩短了整个电路优化周期。

技术领域

本发明涉及电子设计技术领域,更具体的说,涉及一种加速电路优化的方法及系统。

背景技术

在电子设计流程中,电路优化是确保和提升电路性能的重要过程。目前电路优化分为两类:一类是设计工程师对电路人工优化,另一类是依赖计算机程序对电路自动优化。人工优化依赖设计工程师的专业知识和设计经验,优化速度慢,设计效率低,导致整个电路优化周期较长。自动优化过程主要包括:初始化待优化电路产生优选解集合;根据优选解集合自动产生的新的候选解集合;评测候选解集合中各候选解所对应的电路性能值;根据各电路性能值更新待优化电路的最优解以及优选解集合;重复上述过程直至得到满足设计指标的最优解,并输出该最优解。

在自动优化电路过程的各步骤中,单次评测候选解集合中各候选解所对应的电路性能所需时间最长,特别是采用电路仿真精确评测候选解所对应的电路性能时,其所用时间占据各步骤时间之和的主要部分,并且,整个迭代优化循环过程中无效解产生的概率较高,使得循环迭代效率低,导致循环迭代次数多,从而导致整个电路优化周期较长。

发明内容

有鉴于此,本发明公开一种加速电路优化的方法及系统,以实现加速候选解的电路性能值的获取,也即减少单次评测候选解所对应的电路性能值所用时间,从而降低整个迭代优化循环过程中电路性能评测时间,提高循环迭代效率,缩短整个电路优化周期。

一种加速电路优化的方法,包括:

初始化待优化电路产生优选解集合;

根据所述优选解集合产生新的候选解集合;

将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值,其中,所述宏模型表征设计参数值与电路性能值的对应关系;

根据每个所述候选解相对应的电路性能值,更新所述待优化电路的最优解以及所述优选解集合;

当所述最优解满足预设设计指标时,输出所述最优解;

当所述最优解不满足所述预设设计指标时,继续根据更新的优选解集合产生新的候选解集合,直至得到的最优解满足所述预设设计指标。

优选的,当所述宏模型为由设计参数值与电路性能值形成的查询表时,将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值,具体包括:

将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型;

当在所述宏模型中查找到所述候选解相对应的电路性能值,则将查找到的所述电路性能值作为所述候选解的电路性能值;

当在所述宏模型中未查找到所述候选解相应的电路性能值时,则在所述宏模型中查找所述候选解的N个临近候选解相对应的电路性能值,根据所述候选解和N个所述临近候选解的距离差值以及N个所述临近候选解相对应的电路性能值,计算得到所述候选解相对应的电路性能值,其中,N为正整数。

优选的,在步骤根据所述优选解集合产生新的候选解集合之后,在将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值之前,还包括:

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