[发明专利]一种加速电路优化的方法及系统有效
申请号: | 201711048112.4 | 申请日: | 2017-10-31 |
公开(公告)号: | CN109726413B | 公开(公告)日: | 2023-01-24 |
发明(设计)人: | 吴玉平;陈岚;张学连;孙旭 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308;G06F30/398 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加速 电路 优化 方法 系统 | ||
1.一种加速电路优化的方法,其特征在于,包括:
初始化待优化电路产生优选解集合;
根据所述优选解集合产生新的候选解集合;
将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值,其中,所述宏模型表征设计参数值与电路性能值的对应关系;
根据每个所述候选解相对应的电路性能值,更新所述待优化电路的最优解以及所述优选解集合;
当所述最优解满足预设设计指标时,输出所述最优解;
当所述最优解不满足所述预设设计指标时,继续根据更新的优选解集合产生新的候选解集合,直至得到的最优解满足所述预设设计指标;
在步骤将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值之后,还包括:
将获得的各个所述候选解以及相对应的电路性能值以对应关系的形式添加至所述宏模型,增量式创建得到最新宏模型,并将所述宏模型替换成所述最新宏模型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述宏模型为由设计参数值与电路性能值形成的查询表时,将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值,具体包括:
将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型;
当在所述宏模型中查找到所述候选解相对应的电路性能值,则将查找到的所述电路性能值作为所述候选解的电路性能值;
当在所述宏模型中未查找到所述候选解相应的电路性能值时,则在所述宏模型中查找所述候选解的N个临近候选解相对应的电路性能值,根据所述候选解和N个所述临近候选解的距离差值以及N个所述临近候选解相对应的电路性能值,计算得到所述候选解相对应的电路性能值,其中,N为正整数。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤根据所述优选解集合产生新的候选解集合之后,在将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值之前,还包括:
采用电路仿真评测所述候选解集合中各个所述候选解相对应的电路性能值;
基于各个所述候选解以及相对应的电路性能值,建立所述宏模型。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值,具体包括:
将所述候选解集合中的各个候选解作为设计参数值,输入至预先建立的宏模型,获得每个所述候选解相对应的电路性能值;
判断获得的各个所述电路性能值是否在预设范围内;
当所述电路性能值没有在所述预设范围内时,则将所述电路性能值作为相对应候选解的目标电路性能值;
当所述电路性能值在所述预设范围内时,采用电路仿真再次测评所述电路性能值相对应的候选解的电路性能值,并将采用所述电路仿真测评得到的电路性能值作为相对应候选解的目标电路性能值;
根据每个所述候选解相对应的电路性能值,更新所述待优化电路的最优解以及所述优选解集合,具体包括:
根据每个所述候选解相对应的目标电路性能值,更新所述待优化电路的最优解以及所述优选解集合。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设范围为:
|(Preal–Pspec)/Pspec|Rerr;
其中,Preal为基于所述宏模型评测所得电路性能值,Pspec为目标性能值,Rerr为电路性能指标项的相对误差值。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设范围为:
PboundL≤Preal≤Pspec;
或,Pspec≤Preal≤PboundR
其中,Preal为基于所述宏模型评测所得电路性能值,Pspec为目标性能值,PboundL为电路性能指标项的下限,PboundR为电路性能指标项的上限。
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