[发明专利]用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置有效
| 申请号： | 201711042176.3 | 申请日： | 2017-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN108020723B | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 李煜;白丕绩 | 申请（专利权）人： | 北方广微科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京展翅星辰知识产权代理有限公司 11693 | 代理人： | 王文生 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 电容 制冷 平面 读出 电路 超高 阻抗 测量 装置 | ||
1.一种用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置，包括电容型非制冷焦平面读出电路像素输入单元阵列和四个超高电阻测试结构；
所述超高电阻测试结构分别包含多个均匀排列的超高电阻模块；
所述多个均匀排列的超高电阻模块通过两根金属连接线并联连接；
所述超高电阻的阻值与所述电容型非制冷焦平面读出电路像素输入单元阵列的反馈电阻完全相同；
其特征在于，所述四个超高电阻测试结构分别位于所述电容型非制冷焦平面读出电路像素输入单元阵列的左上角、右上角、左下角、右下角；
所述超高电阻模块包含多个均匀排列的超高电阻。
2.根据权利要求1所述的一种用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置，其特征在于，所述多个均匀排列的超高电阻模块数量为50个。
3.根据权利要求1所述的一种用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置，其特征在于，所述超高电阻测试结构包含两个连接所述金属连接线的焊盘。
4.根据权利要求1所述的一种用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置，其特征在于，所述多个均匀排列的超高电阻数量为20个。
5.根据权利要求1或4所述的一种用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置，其特征在于，所述多个均匀排列的超高电阻并联连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于电容型非制冷焦平面读出电路的超高阻抗测量装置，其特征在于，所述超高电阻的形状、材料和制作工艺与所述电容型非制冷焦平面读出电路像素输入单元阵列的反馈电阻完全相同。
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