[发明专利]一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法在审

专利信息
申请号: 201711020696.4 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN107561694A 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 涂昊;张华坤;武帅;房灿;冯辉;王文静;张军;方财义;孙泽月;朱雨 申请(专利权)人: 安徽博微太赫兹信息科技有限公司
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)34124 代理人: 丁瑞瑞
地址: 237000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 蒙特卡洛焦 平面 成像 光学 自动 设计 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及成像技术领域,更具体涉及一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法。

背景技术

焦平面成像技术在很多领域有着广泛的应用,这些应用覆盖了电磁波谱的各个频段。比如:(1)在可见光波段上,CCD相机和摄像机都运用了多透镜系统实现低像差的高精度光学成像;(2)在红外波段上,红外焦平面阵列通常被用于测量目标区域温度分布的红外热像仪中,这可以用于照明不足条件下的监视;(3)在毫米波太赫兹频段上,焦平面成像可以用于主动和被动的人体安检成像中。

目前的在这些焦平面成像系统的设计中,为了易于制造,通常将焦平面探测器阵列的排布方式设置为等间距均匀平面排布。但是这样的设置给光学系统的设计带来了困难。这是因为每一个光学镜面,不论是反射镜面或透镜曲面,都会带来各种像差,即像平面的弯曲、色散、畸变等等。因此仅仅依靠1~2个光学曲面实现对较大视场的低像差成像几乎是不可能的。为了将像差的影响降到最低,就需要引入多个曲面,这样整个光学系统的设计复杂度就大大提升。另一方面,引入多个曲面对于可见光波段还相对容易做到,但对于波长更长的毫米波太赫兹等频段来说,由于光学器件的尺寸急剧增大,往往需要使用尽量少的曲面实现低像差成像。而且,目前在光学系统设计中,尤其是在毫米波太赫兹频段,已经越来越多地使用了高阶非球面或赋形曲面,这些面形更进一步增加了光学设计的难度。

近年来,一些光学仿真软件都加入了对光学系统几何参数自动优化的功能,例如ZEMAX等。但是这些光学仿真软件的自动优化具有很多局限性,例如ZEMAX中的优化中,如果同时对大量的几何参数进行优化计算,往往会出现不合理的结果,很多限制条件的调整和输入在软件中也存在比较大的困难,如果采用一次优化1~2个面形,逐个面进行优化的方式,则需要进行大量的手动操作,无法实现自动优化的功能。

总而言之,目前来看,还缺少一种能够通用于各个频段、多种高阶面形的焦平面成像光学的自动设计方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供了一种能够通用于各个频段、多种高阶面形的蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的:一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,主要步骤分为六步:步骤1:分析设计需求;步骤2:建立优化函数;步骤3:进行粗精度优化;步骤4:进行高精度优化;步骤5:得到最优设计参数;步骤6:给出仿真结果,其中步骤2中所述的建立优化函数是创建一个供步骤3和步骤4中所使用的优化目标函数,步骤3和步骤4中所使用的优化方法为蒙特卡洛方法。

作为优化的技术方案,步骤1中分析设计需求中要求给出物平面的位置和尺寸、成像放大比、光学系统最小口径限制、使用曲面的数量。

作为优化的技术方案,步骤2中所述的建立优化函数是各个像差函数的加权求和,其表达式如下:

Φ=A1TSC+A2SC+(A3+3A4)CC+A5TAC+A6AC

+A7TPC+A8PC+A9DC+A10TAchC+A11LchC+A12TchC (1)

其中Φ为优化目标函数,TSC为横向球差,SC为纵向球差,CC为弧矢慧差,TAC为横向像散,AC为纵向像散,TPC为横向场曲,PC为纵向场曲,DC为畸变,TAchC为横向轴向色差,LchC为纵向轴向色差,TchC为垂轴色差,这些色差均是各个曲面的几何参数的函数,A1至A12为不小于零的加权系数。根据步骤1中的设计需求给出各个加权系数的具体数值。

作为进一步优化的技术方案,步骤2中,如果有其他的限制条件,在(1)式后面添加新的项予以约束。

作为优化的技术方案,步骤3中对(1)式进行计算时运用的是近轴光线几何关系的解析表达式,其步骤是:

步骤(1):生成一个初始光学构型作为当前构型;

步骤(2):计算给出初始光学构型的优化目标函数值作为优化目标函数当前值;

步骤(3):依次对每个曲面的几何参数做随机变动;

步骤(4):计算随机变动后的优化目标函数值;

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