[发明专利]一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法在审
| 申请号: | 201711020696.4 | 申请日: | 2017-10-26 |
| 公开(公告)号: | CN107561694A | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
| 发明(设计)人: | 涂昊;张华坤;武帅;房灿;冯辉;王文静;张军;方财义;孙泽月;朱雨 | 申请(专利权)人: | 安徽博微太赫兹信息科技有限公司 |
| 主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00 |
| 代理公司: | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)34124 | 代理人: | 丁瑞瑞 |
| 地址: | 237000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 蒙特卡洛焦 平面 成像 光学 自动 设计 方法 | ||
1.一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,主要步骤分为六步:步骤1:分析设计需求;步骤2:建立优化函数;步骤3:进行粗精度优化;步骤4:进行高精度优化;步骤5:得到最优设计参数;步骤6:给出仿真结果,其中步骤2中所述的建立优化函数是创建一个供步骤3和步骤4中所使用的优化目标函数,步骤3和步骤4中所使用的优化方法为蒙特卡洛方法。
2.根据权利要求1所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤1中分析设计需求中要求给出物平面的位置和尺寸、成像放大比、光学系统最小口径限制、使用曲面的数量。
3.根据权利要求1所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤2中所述的建立优化函数是各个像差函数的加权求和,其表达式如下:
Φ=A1T SC+A2SC+(A3+3A4)CC+A5T AC+A6AC+A7TPC+A8PC+A9DC+A10T AchC+A11LchC+A12T chC (1)
其中Φ为优化目标函数,TSC为横向球差,SC为纵向球差,CC为弧矢慧差,TAC为横向像散,AC为纵向像散,TPC为横向场曲,PC为纵向场曲,DC为畸变,TAchC为横向轴向色差,LchC为纵向轴向色差,TchC为垂轴色差,这些色差均是各个曲面的几何参数的函数,A1至A12为不小于零的加权系数,根据步骤1中的设计需求给出各个加权系数的具体数值。
4.根据权利要求3所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤2中,如果有其他的限制条件,在(1)式后面添加新的项予以约束。
5.根据权利要求3所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤3中对(1)式进行计算时运用的是近轴光线几何关系的解析表达式,其步骤是:
步骤(1):生成一个初始光学构型作为当前构型;
步骤(2):计算给出初始光学构型的优化目标函数值作为优化目标函数当前值;
步骤(3):依次对每个曲面的几何参数做随机变动;
步骤(4):计算随机变动后的优化目标函数值;
步骤(5):进行判断,如果变动后的优化目标函数值变小,则接受这一变动,更新当前构型和当前优化目标函数值,更新如果变动后的目标函数值变大,则拒绝这一变动,不更新当前构型和当前优化目标函数值;
步骤(6):重复步骤(3)至步骤(5)直到达到指定的次数。
6.根据权利要求5所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤3中的步骤(6)中,指定的次数此处设置为80000-120000。
7.根据权利要求5所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤4中的高精度优化的初始构型为步骤3优化后的输出构型;对(1)式进行计算时运用的是各个像差参数的几何定义,由光线追迹或计算场分布给出,其步骤是:
步骤(1):依次对每个曲面的几何参数做随机变动;
步骤(2):计算随机变动后的优化目标函数值;
步骤(3):进行判断,如果变动后的优化目标函数值变小,则接受这一变动,更新当前构型和当前优化目标函数值,更新如果变动后的目标函数值变大,则拒绝这一变动,不更新当前构型和当前优化目标函数值;
步骤(4):重复步骤(1)至步骤(3)直到达到指定的次数。
8.根据权利要求7所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤4中的步骤(4)中,指定的次数此处设置为80-120。
9.根据权利要求7所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤5所述的得到最优设计参数是步骤4完成时各个曲面几何参数的值。
10.根据权利要求9所述的一种蒙特卡洛焦平面成像光学自动设计方法,其特征在于,步骤6对步骤5给出的最优设计参数进行光线追迹或高斯光学传播计算,得出成像仿真结果。
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