[发明专利]检测装置、检测方法及存储设备在审
| 申请号: | 201711015696.5 | 申请日: | 2017-10-26 |
| 公开(公告)号: | CN109708607A | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
| 发明(设计)人: | 陈磊;王志欢;杨明全;张森 | 申请(专利权)人: | 富鼎电子科技(嘉善)有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30;G01B21/22;G01B21/00 |
| 代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 刘永辉;郑杏芳 |
| 地址: | 314102 浙江省嘉兴市嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 探针单元 存储设备 检测 处理器 种检测 指令 电性连接 多条指令 检测装置 角度偏移 空间位置 探测头 偏移 标定 加载 存储 平整 加工 | ||
本发明提出一种检测装置,用于对待加工的工件的空间位置进行检测,其包括:处理器,适于实现各指令;探针单元,该探针单元与该处理器电性连接;存储设备,适于存储多条指令,所述指令适于由所述处理器加载并执行:控制该探针单元,并对该探针单元的探测头进行标定;控制该探针单元检测一工件是否放置平整;控制该探针单元检测该工件在该第一方向及该第二方向的是否发生偏移;及控制该探针单元检测该工件在该第一方向与该第二方向所在的平面上的是否发生角度偏移。同时,本发明还提出了一种检测方法及存储设备。
技术领域
本发明涉及一种检测装置,特别是一种用于对待加工工件进行检测的检测装置及检测方法。
背景技术
在数控加工过程中,对工件的尺寸及空间位置等进行测量以对工件进行精确定位而提高对工件的加工良率。对于工件简单的几何量测量,操作者可以在数控机床上直接用量具测量;对于工件的空间位置等比较复杂的测量问题,由于常规量具无法完成,操作者必须使用专用的测量设备。然而,现有的测量设备结构复杂且需要由经过专门训练的专业人员去完成测量过程并对测量结果进行理解和判断,检测用软件的学习和应用较困难,操作复杂。
发明内容
鉴于上述状况,有必要提供一种能够对工件测量方便且操作简单的检测装置。
一种检测装置,用于对待加工的工件的空间位置进行检测,该检测装置包括:
处理器,适于实现各指令;
探针单元,该探针单元与该处理器电性连接;
存储设备,适于存储多条指令,所述指令适于由所述处理器加载并执行:
控制该探针单元,并对该探针单元的探测头进行标定;
控制该探针单元对一工件的水平表面上的多个点进行检测,并根据检测数据进行计算以判断该工件是否放置平整;
控制该探针单元对该工件的侧面上的多个点进行检测,并根据检测数据与上述多个点的理论坐标值计算出工件在第一方向及与该第一方向相垂直的第二方向的偏差值以判断该工件在该第一方向及该第二方向的是否发生偏移;及
控制该探针单元对该工件的一侧面上的多个点进行检测,并根据检测数据以及上述多个点的理论坐标值计算出工件在该第一方向与该第二方向所在的平面上的偏移角度以判断该工件在该第一方向与该第二方向所在的平面上的是否发生角度偏移。
一种检测方法,其包括:
将一工件放置于一加工装置的固定治具上;
对一探针单元的探测头进行标定,并标定出检测坐标原点;
控制该探针单元对该工件的水平表面上的多个点进行检测,并根据检测数据进行计算以判断工件是否放置平整;
控制该探针单元对该工件的侧面上的多个点进行检测,并根据检测数据与上述多个点的理论坐标值计算出工件在第一方向及与该第一方向相垂直的第二方向的偏差值以判断该工件在该第一方向及该第二方向的是否发生偏移;及
控制该探针单元对该工件的一侧面上的多个点进行检测,并根据检测数据以及上述多个点的理论坐标值计算出工件在该第一方向与该第二方向所在的平面上的偏移角度以判断该工件在该第一方向与该第二方向所在的平面上的是否发生角度偏移。
一种存储设备,该存储设备存储多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行:
控制一探针单元,并对该探针单元的探测头进行标定;
控制该探针单元对一工件的水平表面上的多个点进行检测,并根据检测数据进行计算以判断该工件是否放置平整;
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