[发明专利]检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及电路领域，具体而言，涉及一种检测电路。

背景技术

对于大功率变频器或者伺服驱动器，三相电作为理想输入。现在很多技术检测缺三相输入缺相方法有：

1、直接利用电阻分压AD采样，这种方法检测直接有效，但是强弱电不隔离，安全隐患较大；

2、线性变压器隔离结合光耦来判断是否缺相，但是线性变压器笨重，对于空间有限的控制器十分不便；

3、如光耦隔离加LM393两两比较检测，这种方法检测安全有效但是检测电路复杂且成本高。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种检测电路，以至少解决现有的检测电路复杂且不安全的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种检测电路，包括：分压电阻，与三相电相连接；三相整流桥结构，输入端与所述分压电阻相连接，用于整流；光耦，连接在所述三相整流桥的输出端；上拉电阻，连接在所述光耦中光敏三极管的集电极；MCU检测IO口，连接在所述光耦的输出端，用于在所述光耦导通或者关断的状态下输出高电平或者低电平，其中，在所述MCU检测IO口为低电平时，确定所述三相电不缺相。

可选地，在所述三相电缺任意一相时，所述光耦不断导通和关断，所述MCU检测IO口为脉冲式高低电平；在所述三相电缺两相时，所述MCU检测IO口为恒定高电平；在所述三相电三相全缺相时，所述MCU检测IO口为恒定高电平。

可选地，所述检测电路还包括：前端电容，与所述光耦中的发光二极管并联，用于对所述光耦进行前端滤波，并且稳住所述发光二极管两端的电压。

可选地，所述检测电路还包括：滤波电容，连接在所述光耦的输出端，用于滤除波纹和/或噪音。

可选地，所述滤波电容包括并联的第一电容和第二电容，所述第一电容的一端连接在所述光耦中光敏三极管的集电极，所述第一电容的另外一端连接在所述光耦中光敏三极管的发射极，所述第一电容和所述第二电容的电容值不同。

可选地，所述分压电阻包括第一分压电阻、第二分压电阻和第三分压电阻，所述第一分压电阻连接U相电，所述第二分压电阻连接V相电，所述第三分压电阻连接W相电，其中，所述第一分压电阻、所述第二分压电阻和所述第三分压电阻的阻值相同。

可选地，所述检测电路还包括：直流电压源，与所述上拉电阻相连接，其中，所述上拉电阻的阻值与所述直流电压源的电压值相匹配。

可选地，所述检测电路还包括限流电阻，所述限流电阻连接在所述光耦中发光二极管的正极。

可选地，所述检测电路还包括稳压管，用于稳住所述光耦两端的压差。

可选地，任意一个所述分压电阻满足以下条件：

(R4+光耦内阻+稳压管内阻)/(R4+光耦内阻+稳压管内阻+R1)＝UR1+光耦压降+稳压管压降，其中,R4为所述限流电阻的电阻值，R1为任意一个所述分压电阻的电阻值，UR1为任意一个所述分压电阻两端的电压。

可选地，所述三相整流桥结构包括二极管D1、二极管D2、二极管D3、二极管D4、二极管D5和二极管D6，其中，所述二极管D1和所述二极管D4串联，并且所述二极管D1和所述二极管D4的连接点连接U相电，所述二极管D2和所述二极管D5串联，并且所述二极管D2和所述二极管D5的连接点连接V相电，所述二极管D3和所述二极管D6串联，并且所述二极管D3和所述二极管D6的连接点连接W相电，所述二极管D1的负极连接所述二极管D2的负极，并且连接所述二极管D3的负极，所述二极管D1的正极连接所述二极管D4的负极，所述二极管D2的正极连接所述二极管D5的负极，所述二极管D3的正极连接所述二极管D6的负极，所述二极管D4的正级连接所述二极管D5的正极，并且连接所述二极管D6的正极。

本发明实施例中的检测电路，由于缺相会导致光耦处于关断状态或者导通与关断不断切换的状态，这就会影响MCU检测IO口的电平为高电平或者低电平，在三相电不缺相时，光耦恒定导通使得MCU检测IO口为低电平，根据MCU检测IO口是否为低电平来确定是否缺相。本实施例所采用的检测电路结构简单，且安全性比较强。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的检测电路的示意图；

图2是根据本发明实施例的检测电路的电路图。

具体实施方式