[发明专利]测量和校正系统的非理想性

说明书

本公开提供了测量和校正系统的非理想性。许多系统实施校准方案来测量和校正非理想性。这样的系统可能是复杂的，这使得它们不实际执行，因为成本可能超过校准方案的好处。为了实现高效和有效的校准，基于例如输出信号与不相关的随机信号的相关性，以分段方式在前景或背景中检测非理想性或系统的误差，其中相关结果针对误差信号的不同开放间隔单独处理。二阶和三阶校正项可以根据三个开放间隔轻松确定。在各种实施方案中，校准方案可以检测和纠正线性误差(线性和非线性)存储器/频率依赖性误差、静态非线性误差、Hammerstein型非线性误差和Wiener型非线性误差(交叉项)。

技术领域

本公开涉及集成电路领域，特别地涉及测量和校正系统的非理想性。

背景技术

在许多电子应用中，模数转换器(ADC)将模拟输入信号转换为数字输出信号，例如用于数字电子器件进一步的数字信号处理或存储。广义而言，ADC可以转换表示现实世界现象的模拟电信号，例如光、声音、温度、电磁波或压力，用于数据处理。例如，在测量系统中，感测测量并产生模拟信号。然后将模拟信号提供给ADC作为输入以产生用于进一步处理的数字输出信号。在另一种情况下，传输器使用电磁波产生模拟信号以携带空中的信息，或者发射机发送模拟信号以通过电缆携带信息。然后，模拟信号作为输入提供给接收器处的ADC，以产生数字输出信号，例如用于数字电子设备的进一步处理。

由于其在许多应用中的广泛应用，可以在诸如宽带通信系统、音频系统，接收机系统等的地方找到ADC。设计ADC是一项不平凡的任务，因为每个应用程序在性能、功耗、成本和尺寸上可能都有不同的需求。ADC用于广泛的应用，包括通信、能源、医疗保健、仪器和测量、电机和功率控制、工业自动化和航空航天/国防。随着ADC需求的增长，快速而准确的转换的需求也在增长。设计ADC，特别是满足动态性能要求和低功耗的ADC可能是一项复杂而具有挑战性的任务。

发明内容

根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种用于确定系统的校正项的方法，该方法包括：除去在所述系统中注入的伪随机信号以获得误差信号；执行所述误差信号与所述伪随机信号的相关；和基于误差信号的不同开放间隔积累的相关性来更新校正项。

根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种用于校正产生输出信号的电路的系统，所述系统包括：除去注入的信号的电路部件，其中所述注入的信号与由电路处理的信号不相关以产生误差信号；阈值逻辑，确定误差信号是否随着一个或多个开放间隔而下降；将误差信号与注入的信号相关的相关块；和一个或多个更新循环，用于在一个或多个开放间隔内处理相关结果的，以产生用于校正电路的校正项。

根据本公开的一个或多个实施例，提供了一种用于确定模数转换器的校正项的设备，所述设备包括：构件，用于基于误差信号的幅度，将模拟转换器的误差信号与伪随机信号的相关结果排列为重叠的开放间隔；和构件，用于基于每个重叠的开放间隔中的相关结果，估计与重叠的开放间隔对应的校正项。

附图说明

为了更全面地了解本公开及其特征和优点，参考结合附图进行的以下描述，其中相同的附图标记表示相同的部分，其中：

图1描述流水线模数转换器中的示例性阶段；

图2描述根据本公开的一些实施方案流水线模数转换器中的示例性阶段，其具有注入的信号用于测量放大器的特性；

图3描述理想信号对具有非线性的信号；

图4是根据本公开的一些实施方案描述使用分段方案确定校正项的方法的流程图；

图5描述根据本公开的一些实施方案用于确定校正项的示例性系统；

图6A-B描述根据本公开的一些实施方案使用两个或三个开放间隔来确定校正项；

图7A-B描述根据本公开的一些实施方案使用多个开放间隔来确定分段线性校正项；