[发明专利]测量和校正系统的非理想性有效

专利信息
申请号: 201710967761.8 申请日: 2017-10-18
公开(公告)号: CN107959499B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: E·奥特 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 张鑫
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 校正 系统 理想
【权利要求书】:

1.一种用于确定系统的校正项的方法,该方法包括:

除去在所述系统中注入的伪随机信号以获得误差信号,其中,所述伪随机信号为1位伪随机信号;

执行所述误差信号与所述伪随机信号的关联;和

以基于所述误差信号的不同开放间隔积累的相关性为基础来更新校正项,其中,所述不同开放间隔是基于所述误差信号的幅度定义的。

2.如权利要求1所述的方法,其中不同间隔包括:包括所有样本的间隔、以及包括绝对值大于第一预定阈值的样本的间隔。

3.如权利要求1所述的方法,其中基于相关性来更新校正项包括:

基于下列来更新校正项:(1)与包括所有样本的间隔相关联的相关性;和(2)与包括绝对值大于第一预定阈值的样本的间隔相关联的相关性。

4.如权利要求1所述的方法,其中不同间隔包括:包括所有样本的间隔、包括其值高于第一预定阈值的样本的间隔、以及包括其值低于第二预定阈值的样本的间隔。

5.如权利要求1所述的方法,其中基于相关性来更新校正项包括:

基于下列来更新校正项:(1)与包括其值高于第一预定阈值的样本的间隔相关联的相关性;和(2)与包括其值低于第二预定阈值的样本的间隔相关联的相关性。

6.如权利要求1所述的方法,其中所述不同开放间隔包括:包括所有样本的间隔、以及各自包括其绝对值高于对应于间隔中的特定一个间隔的预定阈值的样本的、与不同的预定阈值相关联的多个间隔。

7.如权利要求1所述的方法,其中不同开放间隔中的两个或更多个开放间隔彼此重叠。

8.如权利要求1所述的方法,其中基于相关性来更新校正项包括:基于不同开放间隔估计分段线性校正项。

9.如权利要求1所述的方法,其中所述校正项包括每个开放间隔的偏移和增益系数。

10.如权利要求1所述的方法,其中执行关联包括:将所述误差信号与伪随机信号的滞后或领先样本关联。

11.如权利要求1所述的方法,其中执行关联包括:

在不同的时刻将伪随机信号的样本的乘积与所述误差信号关联。

12.如权利要求1所述的方法,其中所述误差信号的不同开放间隔包括基于所述误差信号的领先或滞后样本的幅度的开放间隔。

13.如权利要求1所述的方法,其中所述误差信号的不同开放间隔包括基于在不同时刻所述误差信号的样本的乘积的开放间隔。

14.一种用于校正产生输出信号的电路的系统,所述系统包括:

除去注入的信号的电路部件,其中所述注入的信号与由电路处理的信号不相关,以产生误差信号,其中所述注入的信号是1位伪随机信号;

阈值逻辑,用于确定误差信号是否落在一个或多个开放间隔;

关联块,用于将误差信号与注入的信号关联;和

一个或多个更新循环,用于在一个或多个开放间隔内处理关联结果,以产生用于校正电路的校正项。

15.如权利要求14所述的系统,其中:

所述电路是模数转换器中的残留产生电路;

注入的信号被注入到残留产生电路的放大器的输入端;和

所述校正项与所述放大器的增益误差相关联。

16.如权利要求14所述的系统,还包括:

数模转换器,用于基于一位伪随机数序列产生注入的信号。

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