[发明专利]一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统及方法

说明书

本发明公开了一种单板双通道产测及良率分析系统，该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块，其中，人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中。本发明能够减少测试成本，实现产测要求，自动根据多批次测试结果制定良率控制线，提高测试精确度，减少因接触问题而导致的数据不准确，效率大幅度提升。

技术领域

本发明属于测试的技术领域，尤其涉及芯片模拟性能检测、数据统计和分析及客户代烧录等的系统及方法。

背景技术

目前已有的单板量产测试装置不能对电压电流、时钟频率及上下拉电阻等多项模拟指标进行一体化测试，灵活性差且投入高，装置不能实时保存被测芯片的良率情况，给后面的良率分析工作带来困难，且没有接触电阻检测，电压电流信号量测试、ADC测试及供电电压产生等都是独立分开的，只能应用于单一类型的芯片测试，不同类别项目的测试都需要重新开发测试平台，通用性差，无法快速的开发新的测试装置，外加ADC输入信号由于外界信号线阻抗、接触等各种问题导致数据不可靠，重复性工作量大，芯片因直流特性出现的问题检测设备没有一个完整的检测方法且不能同时进行良率分析，芯片与handler之间会由于接触不实等问题带来测试结果误判，进而造成成本损失，为了解决良率问题，测试工程师分析问题需要花费很多的时间，整个过程需要人为参与，大量重复工作使得人力物力与时间资源的成本增高，内耗较大造成测试成本较高，后续的可维护性难度加大；传统的良率分析方法受到现实条件的制约，只对单一批次芯片产品分析判断，批次性变化较大的情况下，良率控制线制定不准确；受传统化的开发思路的影响缺少集成度高的测试及良率分析装置，制约了FT量产测试效率。

发明内容

基于此，因此本发明的首要目地是提供一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统及方法，该系统及方法利用单板进行芯片测试和良率分析，实现产测要求，单板量产测试平台的引入集成测试模式在一定程度上节省测试时间和成本，提高测试精确度，减少因接触问题而导致的数据不准确，效率大幅度提升。

本发明的另一个目地在于提供一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统及方法，该系统及方法能够自动实现在量产测试FT阶段对多项电量、频率及电阻等模拟参数指标进行测试、实时补偿和接触检测，同时使用外接handler机械手实现双site芯片同时测试、记录和良率分析等一体化，减少测试成本，并通过良率控制线应用于工艺封测等阶段评估，设备使用便捷和操作方便。

为实现上述目的，本发明的技术方案为：

一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统，其特征在于该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块，其中，人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中；嵌入式微处理器通过数据传输接口与LCD显示模块连接，通过handler控制接口、烧录接口、通信检测接口及过冲控制接口与Handler设备上的被测芯片连接。

该系统可以在FT量产阶段对芯片进行批量自动化多模拟参数指标测试，将多指标项测试方法集成在一套系统内进行测试和良率处理，包含接触电阻检测，大幅提高测试效率，且根据相关问题进行预处理和显示，并将测试的芯片数据按照MAP图的形式存储在移动存储设备中，便于在不同终端下分析和问题处理。

所述接触电阻检测模块，主要检测单板外界的Handler设备与被测芯片之间的连接性。所述固件更新模块，主要实现在系统固件全部更新和时序逻辑功能更新等。所述handler控制模块，负责芯片的自动化控制操作和对芯片测试，实现芯片的测试和烧录。