[发明专利]一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统及方法

权利要求书

1.一种单板双通道FT量产测试及良率分析系统，其特征在于该系统构包括有人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块和LCD显示模块，其中，人机接口处理模块、接触电阻检测模块、移动数据存储模块、固件更新模块、handler控制模块、电源控制与电压校准模块、模拟指标测试模块、良率分析模块集成于嵌入式微处理器中；嵌入式微处理器通过数据传输接口与LCD显示模块连接，通过handler控制接口、烧录接口、通信检测接口及过冲控制接口与Handler设备上的被测芯片连接；

所述模拟指标测试模块包含PMU控制检测单元、频率采样单元、电阻检测单元；PMU控制检测单元主要用于提供激励信号电压、输入电压检测、输出电流信号，测量过程包括驱动电流测量电压、驱动电压测量电流；频率采样单元主要完成时钟频率的测量及标定，系统进入芯片时钟频率标定流程，检测芯片ID以确定相应的标定方式和标定值写入位置，利用二分查找法计算出标定数值，对写入标定数据的芯片进行测量；电阻检测单元实现芯片的内部上下拉电阻阻值测试，首先获取设计指标，然后开启电源控制与电压校准模块，使得被测芯片进入烧录模式，配置寄存器数据，继而使用PMU检测单元和电压自适应检测单元。

2.如权利要求1所述的单板双通道FT量产测试及良率分析系统，其特征在于所述电源控制与电压校准模块包含被测试芯片供电电源单元和自适应电压检测单元两部分，所述被测试芯片供电电源单元需要完成对被测芯片烧录电压和供电电压的供给等功能，所述自适应电压检测单元，主要实现能对电源控制模块输出电压、PMU输出电压信号量检测、被测芯片烧录电压和供电电压等的自适应校准的功能。

3.如权利要求1所述的单板双通道FT量产测试及良率分析系统，其特征在于所述良率分析模块是主要对芯片电气特性参数测量失效的项及芯片数量进行统计分析的分析单元，完成每一批次良率情况统计分析和大批量多批次数据综合分析，数据来源于电量、时钟频率及上下拉电阻等参数的失效统计，实现所有测试指标项的良率分析及自适应处理，并将实测值与设计指标值对比以判断其失效项，进而统计分析每一批次的良品与不良品比例数据和各测试项失效数据，取若干个测试数据，去除最大良率和最差良率，然后取平均良率，根据平均良率计算均方差，把平均良率减去3倍的均方差值作为良率基准，输出作为良率指标控制线。