[发明专利]一种双CPU多通道FT量产测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种双CPU多通道FT量产测试系统及方法，该系统包括有人机接口处理模块、handler控制模块、开短路检测模块、数据存储模块、电源控制模块、测试模块、统计分析模块和LCD触控显示模块，所述handler控制模块、开短路检测模块、数据存储模块、电源控制模块、测试模块、统计分析模块设置于ARM处理器中，所述人机接口处理模块和LCD触控显示模块设置于LCD触控显示单元中。本发明实现测试和数据处理速度大大提高，且不受限于应用终端影响，解决数据的准确性和重复测试的问题，工作效率高，有利于控制产品的批量出货质量。

技术领域

本发明属于测试的技术领域，尤其涉及芯片模拟性能检测、数据统计和分析及客户代烧录等的系统及方法。

背景技术

目前已有的单板量产测试装置不能同时进行多个Handler同时控制和测试，不能自动将电压、电流、时钟频率及上下拉电阻等多项指标测试，在量产测试时需要为挂仪器才能实现，灵活性差且投入高，常常会由于长时间接触等问题，不能精确测试芯片各指标项，严重时也会出现指标误判；芯片因性能出现的问题时，检测设备没有一套完整的检测方法且不能同时进行统计分析，芯片与handler之间会由于接触不实等问题带来测试结果误判；不能实时保存被测芯片的测试数据情况，给后面的芯片指标项分析工作带来困难；由于没有自适应电源控制和钳位功能，不能将芯片校准到应有的水平，输出电压不稳定造成测试数据可行度变低；不同类别项目的测试需要开发新的测试平台，平台通用性差，开发新的测试装置周期长，无法满足FT量产测试的需求；没有FPGA协处理器等并行处理，使得测试工作只能顺序进行，测试时间长、测试成本高等缺点；缺少集成度较高的便携式测试平台，测试厂对测试成本便宜的批量产品需要占用一台测试机，测试资源利用率低，不适于资源的有效配置，且测试控制软件掌握要求门槛高，测试培训及人员成本都是问题；机械按键操作不便，容易造成无误触发，不利于测试远操作，在生产阶段使用需要经常维护和更换；由于测试时各种问题导致的数据不可靠，手工测试重复性工作量大，为了定位数据异常问题，工程师分析问题需要花费时间多，人为参与整个过程，测试内耗较大，可维护性差；受传统化的开发思路的影响缺少集成度高的测试及分析装置，制约了FT量产测试效率。

发明内容

基于此，因此本发明的首要目地是提供一种双CPU多通道FT量产测试系统及方法，该系统及方法以32位微处理器作为主控，FPGA作为协处理器构成双CPU控制结构，同时控制多个Handler对芯片性能特性进行多通道测试和统计分析，同时可以测试开路、时钟频率等参数，采用自动化检测技术，系统自适应补偿，双CPU结构使得测试效率高，软硬件集成化的设计方法最大程度缩短开发周期，具备高性能、高测试效率。

本发明的另一个目地在于提供一种双CPU多通道FT量产测试系统及方法，该系统及方法整个芯片指标测试和统计分析过程无需人为参与，能够自动完成芯片批次数据归类、多批次产品的数据收集并分析，整个过程自动化程度较高，维护便捷，投入成本降低。

为实现上述目的，本发明的技术方案为：

一种双CPU多通道FT量产测试系统，其特征在于该系统包括有人机接口处理模块、handler控制模块、开短路检测模块、数据存储模块、电源控制模块、测试模块、统计分析模块和LCD触控显示模块，所述handler控制模块、开短路检测模块、数据存储模块、电源控制模块、测试模块、统计分析模块设置于ARM处理器中，所述人机接口处理模块和LCD触控显示模块设置于LCD触控显示单元中，LCD触控显示单元与ARM处理器通过数据传输接口进行通信。

所述系统，还包括有扩展测量模块，所述扩展测量模块由频率测量单元、串行译码单元构成，所述频率测量单元、串行译码单元集成于FPGA处理器中，所述FPGA处理器与ARM处理器通过FSMC接口进行通信。