[发明专利]一种双CPU多通道FT量产测试系统及方法

权利要求书

1.一种双CPU多通道FT量产测试方法，其特征在于该方法包括如下步骤：

101、系统上电，电源模块、时钟系统、IO端口、FSMC接口、Handler控制模块、LCD触控显示设备、数据存储设备及测试模块PMU电压检测单元初始化，接着启动DAC电压控制单元，系统输出电源电压精度自校准和外设模块自检；

102、连接Handler，并启动移动存储设备读取被测芯片配置信息；

103、被测芯片获取到配置文件，系统建立LCD菜单系统，等待用户输入控制指令，供用户按键选择执行芯片量产FT测试；

104、开始量产FT测试；所述量产FT测试包括有开短路检测、管脚测试、电量指标测试、电流指标项测试；

1041、系统关闭电源控制模块，调用PMU电压检测单元，调用OS检测模块进行开短路检测，每一次系统都会控制Handler对被测芯片进行OS开短路检查，已确认芯片和Handler的连接性是良好的；

1042、系统控制Handler夹紧被测芯片后，开始调用PMU电压检测单元采用加流测压的方法检测被测芯片管脚间电压并保存，判断被测芯片管脚间电压是否在0.2V至1.2V之间，如果不在范围内，继而判断是否满足规定检测次数，不满足则重新检测管脚间电压，再次执行1042步骤，如果超过规定次数，记录测试失效项、管脚编号和测试数据并保存，控制Handler投入OS失效bin，结束本芯片测试；如果被测芯片管脚间电压在0.2V至1.2V之间，确定芯片接触良好，记录测试数据并保存，执行下一步；

1043、芯片OS接触良好，LCD显示OS当前测试结果及测试数据，根据配置文件切换测试管脚，系统读取配置文件测试顺序表，确认下一个被测管脚，判断是否测试完，没有测试完成，继续执行1042、1043步骤；OS测试完成，系统执行下一步；

1044、进入电量指标测试，系统开启电源模块，开DAC电压控制单元，使得被测芯片进入烧录模式和测试模式，关闭电子开关并开启PMU电压检测单元，系统给被测芯片发送测试指令，迫使被测芯片进入烧录模式，读取配置文件获取芯片配置信息及直流电流特性设计值和漏电IO端口，系统配置被测芯片相应的功能，根据测试列表开启对应管脚的电子开关，使得PMU电压检测单元通过handler与被测芯片管脚相连接，如果被测管脚为漏电管脚，PMU电压检测单元检测漏电IO端口的漏电流，并记录测试结果，执行下一步；如果被测管脚不是漏电管脚，执行下一步；

1045、电流指标项测试，系统配置被测芯片成相应电流测试项寄存器，检测I/O管脚的IOH/IOL、漏电、sleephalt指标项，通过电子开关顺序切换和各指标项的配置，测量的模块工作电流，根据需要继而计算出模块功耗，存储并显示测试数据，协调Handler测试不同Handler不同通道相同类型电流指标项；电压指标项测试，启动PMU电压检测单元，配置芯片成相应电压测试项寄存器，调用PMU电压检测单元检测VIH\VIL、VOH\VOL及ADC VS指标项，ADC VS根据二分查找法计算出trim数据并写入寄存器，再次测量ADC VS数据并保存，存储并显示结果，协调Handler测试不同Handler不同通道相同类型电压指标项；

105、进入扩展测量模块，读取配置信息，获取被测芯片是时钟频率测量的模块数量，并获取配置数据；

通过主控制处理器ARM和协处理器FPGA协同控制配置被测芯片寄存器，调整电子开关切换至时钟频率输出端口，被测芯片保持在烧录模式，调用扩展测量模块测试进行时钟频率测试，实测数据是否满足设计需求，不满足且小于规定次数，记录测试数据并保存，重复执行本步骤；超过规定复测次数，LCD显示记录测试失效项、管脚编号和测试数据并保存，控制Handler投入时钟频率指标项失效bin，结束测试；实测数据满足设计需求，LCD显示时钟频率当前测试结果及测试数据，切换至下一个时钟频率测试项，根据需要检测的时钟频率模块，判断是否完成时钟频率测试，没有完成，配置寄存器切换电子开关；完成所有时钟频率模块测量，执行下一步；

106、进入数字功能测量单元，切换电子开关至被测芯片DFT管脚，读取芯片配置文件获取被测芯片时序信息和测试指令，系统给被测芯片发送时序信息和测试指令，同时获取测试结果；

107、芯片进入客户代烧录模式，进行烧录；

108、更新LCD触控显示设备，关闭测试模块、电源模块电压自校准模块，系统进入统计分析模块，读取以前各批次良率数据，对芯片测量数据统计分析, LCD显示并保存统计数据，控制handler进入好bin，系统进入命令接收状态，完成一次测试，继续下一次被测芯片测试。