[发明专利]一种高精度光功率光波长测试机台

说明书

技术领域

本发明涉及一种高精度光功率光波长测试机台。

背景技术

对于可视光或红外光发射芯片的光学测试，目前一般是在光学实验室完成的。现有的方案一般是使用光学相机观测发光源，再将光源或者相机固定在三轴或多轴定位平台上，以实现对光源不同角度不同方位的测量。工业中目前并没有成熟的标准化产品来实现这个功能，大部分芯片的光学测试需要进行测量机台的专业订制，因此消耗了大量的时间和成本。同时现有技术中的光学相机用于测量光源时，一般只能测量亮度和光功率，而无法测量例如波长等更加专业的光学参数故而测试内容少；现有的三轴或多轴定位平台一般精度受限于电机和减速器的精度，无法达到理想的精度要求，而高精度的订制三轴定位平台价格昂贵，驱动和定位误差耦合在一起导致非线性冗余问题，既增设了技术门槛，又使成本大幅度增加，即使定位平台的精度足够，运动部分和测试部分的相对位置也会有较大的偏差。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种结构简单、使用方便、成本低、测试内容多和安装精度高的高精度光功率光波长测试机台。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括测试积分球定位块、积分球固定支架定位块和旋转模组定位块，产品适配设置在所述旋转模组定位块上，所述测试积分球定位块与产品相配合，所述测试积分球定位块和所述旋转模组定位块之间设置有标定模组定位块，所述标定模组定位块用于所述测试积分球定位块的定位。

进一步地，所述旋转模组定位块包括X轴旋转模块定位块和Y轴旋转模块定位块，所述标定模组定位块包括依次堆叠的X轴定位块定位块、Y轴定位块定位块和Z轴定位块定位块，所述X轴定位块定位块与所述X轴旋转模块定位块相连接配合，所述Y轴定位块定位块和所述Y轴旋转模块定位块相连接配合，所述Z轴定位块定位块与所述测试积分球相连接配合

进一步地，所述固定轴承座定位块上设置有轴承定位块，所述X轴旋转模块定位块包括X轴转动块定位块，所述X轴转动块定位块的两侧分别与两个所述轴承定位块相转动配合，所述X轴转动块定位块的中部纵向设置有转动轴定位块，所述Y轴旋转模块定位块包括与所述转动轴定位块相配合的Y轴转动块定位块，所述Y轴转动块定位块上设置有Z轴升降模块定位块，产品适配设置在所述Z轴升降模块定位块上。

进一步地，所述Z轴升降模块定位块包括升降电机定位块和产品安装平台定位块，所述产品安装平台定位块与所述升降电机定位块的输出轴定位块相连接配合。

进一步地，所述X轴定位块定位块为横向设置的第一方形块定位块，所述X轴转动块定位块的两侧与所述X轴定位块定位块的两侧通过销钉相连接配合，所述Y轴定位块定位块为设置在所述X轴定位块定位块下端面的第二方形块定位块，所述Y轴定位块定位块的下端面与所述产品安装平台定位块的上端面相对位配合，所述Z轴定位块定位块为竖向设置在所述X轴定位块定位块的中部的筒形块，所述Z轴定位块定位块的上端套设在所述测试积分球定位块的进光口上。

进一步地，所述积分球固定支架定位块包括竖直导轨定位块，所述竖直导轨定位块上滑动配合设置有滑块定位块，所述滑块定位块的前端固定设置有积分球固定座定位块，所述积分球固定座定位块的中部设置有供所述测试积分球定位块安装的安装腔体，所述安装腔体定位块与所述测试积分球定位块的中部相适配。

进一步地，所述滑块定位块与所述竖直导轨定位块通过螺栓相连接。

进一步地，所述竖直导轨定位块的上端设置有上限位顶柱定位块，所述上限位顶柱定位块与所述滑块定位块的上端面相配合。

本发明的有益效果为：本发明使用了光学测试积分球来进行更为精确和专业的测量，可以测量诸如光功率、波长、频率等光学参数；本发明通过标定模组定位测试积分球和旋转模组之间的安装配合位置，标定模组可以当做专用的机械治具进行机械对位调节，调整方式更加简单高效，调整后的精度优于一般三轴定位平台，调整后旋转模组部分和测试积分球部分的相对位置精确；另外，调整完毕后标定模组可以拆卸下来，使得本发明的定位非常灵活，简化了定位结构，降低了成本。

附图说明

图1是本发明的整体结构示意图；

图2是标定模组的结构示意图；

图3是旋转模组的结构示意图。

具体实施方式