[发明专利]双数据线测试方法、电路及制作方法、阵列基板、显示装置

权利要求书

1.一种双数据线测试电路，其特征在于，所述双数据线测试电路被配置为采用探测设备进行非接触式检测，所述探测设备接收到的信号与发射的信号间的衰减用于确定所述数据线是否存在短路缺陷，所述双数据线测试电路包括至少一条测试线，每条所述测试线被配置为用于对阵列基板上的至少两对数据线进行测试，采用同一条所述测试线测试的所述至少两对数据线相邻布置，每对数据线包括两条连接同一列子像素单元的数据线，每对所述数据线中的两条数据线间距小于10微米，每对所述数据线中的一条数据线与对应的所述测试线连接，每对所述数据线中的另一条数据线未与对应的所述测试线连接；

每条所述测试线上均设置有至少一个开关，每条所述测试线在与任意相邻的两对数据线的连接点之间的部分设置有一个开关，每个所述开关的控制端均连接有控制线。

2.根据权利要求1所述的双数据线测试电路，其特征在于，所述双数据线测试电路包括一条测试线，所述测试线同时与所述阵列基板上的每一对数据线连接。

3.根据权利要求1或2所述的双数据线测试电路，其特征在于，各个所述开关与同一条所述控制线电连接。

4.根据权利要求1或2所述的双数据线测试电路，其特征在于，所述测试线与所述每对数据线中的位于同一侧的数据线连接。

5.根据权利要求1或2所述的双数据线测试电路，其特征在于，所述开关为半导体开关。

6.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括权利要求1至5任一项所述的双数据线测试电路。

7.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求6所述的阵列基板。

8.一种阵列基板制作方法，其特征在于，所述方法用于制作如权利要求6所述的阵列基板，包括：

提供一衬底基板；

在所述衬底基板上制作至少一条测试线和多个开关，每条所述测试线与阵列基板上的至少两对数据线连接，每条所述测试线被配置为用于对阵列基板上的至少两对数据线进行测试，采用同一条所述测试线测试的所述至少两对数据线相邻布置，每对数据线包括两条连接同一列子像素单元的数据线，每对所述数据线中的一条数据线与对应的所述测试线连接；每条所述测试线在与任意相邻的两对数据线的连接点之间的部分设置有一个开关，每个所述开关的控制端均连接有控制线。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在所述衬底基板上制作至少一条测试线和多个开关，包括：

在所述衬底基板上制作所述控制线和所述开关的栅极；

在所述控制线和所述开关的栅极上，依次制作所述开关的栅极绝缘层和有源层；

在所述有源层上制作所述开关的源漏极层、测试线和数据线。

10.一种双数据线测试方法，其特征在于，所述方法基于权利要求1至5任一项所述的双数据线测试电路，所述方法包括：

控制待检测的一对数据线所连接的测试线上的所有开关导通；

向所述待检测的一对数据线中未与所述测试线连接的数据线的一端发送信号；

通过所述待检测的一对数据线中未与所述测试线连接的数据线的另一端接收信号；

根据接收到信号判断所述待检测的一对数据线是否存在短路。