[发明专利]滤光片检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710861037.7 申请日: 2017-09-21
公开(公告)号: CN107607595B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 赵文龙;王栋;崔晓强;徐海燕;王钊;齐超;赵梓亨;唐欢;金贤镇 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G01N27/24 分类号: G01N27/24;G01B7/06
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 刘延喜;王增鑫
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 滤光 检测 装置 方法
【说明书】:

发明提供一种滤光片检测装置,包括测量装置与数据处理装置,所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据;所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板,所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针,所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合;所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。本发明的滤光片检测装置可确定滤光片中的异常剥离膜层,同时可确定该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。相应地,本发明还提供了一种滤光片检测方法。

技术领域

本发明涉及滤光片测量技术及显示技术领域,尤其涉及一种滤光片检测装置,以及相应的滤光片检测方法。

背景技术

彩色滤光片主要由玻璃基板、黑色矩阵、彩色层、保护层以及隔垫物构成。彩色滤光片作为TFT-LCD的重要组成部分,是决定液晶显示屏彩色化、显示屏色彩表现力的关键零组件。

在彩色滤光片制作的过程中,会出现膜层异常剥离的现象,而膜层发生异常剥离常常会导致产品出现多种不良状况,产品良率降低从而增加制造成本。

发明内容

本发明的目的旨在提供一种滤光片检测装置,可确定滤光片中的异常剥离膜层,同时可确定该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。

本发明的另一目的是提供一种滤光片检测方法,其运用于所述滤光片检测装置中,可确定滤光片中的异常剥离膜层以及该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。

为了实现上述目的,本发明提供以下技术方案:

本发明提供平一种滤光片检测装置,其包括测量装置与数据处理装置,所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据;所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板,所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针,所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合;所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。

具体地,所述测量装置还包括电源、绝缘壳体、第一平台和第二平台,所述第一平台设于所述绝缘壳体底端内侧面,所述第二平台设于所述绝缘壳体顶端内侧面;所述第一电极板和第二电极板设于所述第一平台与第二平台之间,所述第一电极板紧贴所述第一平台,所述第二电极板紧贴所述第二平台;所述第一平台和第二平台分别与所述电源正负极连接。

较佳地,所述第一电极板和第二电极板中的所有金属探针皆以行列形式排列,同一电极板内相同行或相同列中任意两相邻所述金属探针之间等间距设置。

较佳地,所述第一电极板的表面和第二电极板的表面皆设有保护层。

相应地,本发明还提供一种滤光片检测方法,其运用于上述任意一项技术方案所述的滤光片检测装置,包括如下步骤:S1:所述数据处理装置获取并记录待测滤光片厚度的实测值D2;S2:所述数据处理装置计算并确定待测滤光片不计入某一膜层厚度时该滤光片的厚度D2’;S3:所述数据处理装置计算D2与D2’的差值;S4:依次重复步骤S2和S3,确定每次不计入不同单一膜层的厚度时待测滤光片的厚度D2’及D2与D2’的差值;S5:对比判断不计入不同单一膜层厚度时D2与各D2’的差值,以确定该差值为最小时所对应的未计入的膜层为异常剥离膜层。

进一步地,所述滤光片检测方法还包括如下具体步骤:所述数据处理装置计算所述异常剥离膜层中各点对应于所述第一电极板和第二电极板之间的电容值,确定该膜层中发生异常剥离的具体位置。

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