[发明专利]一种霍尔线圈和基于霍尔线圈的霍尔产品测试线圈装置及测试方法

权利要求书

1.一种霍尔产品测试线圈装置，其特征在于，包括霍尔线圈（1）、项圈（2）、基座（3）和霍尔测试片；所述霍尔线圈（1）包括工字形支架（12）及包覆在工字形支架（12）中间部分的漆包线卷（11），所述工字形支架（12）一端为环台（121），环台（121）中心处为圆形凹槽（124）；所述圆形凹槽（124）的中心处为圆形通孔（123）；

所述圆形凹槽（124）的深度不小于基座（3）、测试片和待测产品（8）的厚度之和；

所述环台（121）上，由圆形凹槽（124）向外开有两个左右对称的开槽（122）；

所述基座（3）为圆环形，嵌入圆形凹槽（124）内，基座（3）中间为方形的项圈定位孔（32），项圈（2）嵌入项圈定位孔（32）内；所述霍尔测试片固定于基座（3）的上表面。

2.根据权利要求1所述的霍尔产品测试线圈装置，其特征在于：所述漆包线卷（11）的两端和环台（121）直接接触，漆包线卷（11）的周边外露。

3.根据权利要求2所述的霍尔产品测试线圈装置，其特征在于：所述霍尔测试片包括霍尔测试片B（5）和2个霍尔测试片A（4）；所述基座（3）的上表面设置有配合霍尔测试片B（5）和2个霍尔测试片A（4）形状、大小的测试片凹槽（31）；2个霍尔测试片A（4）呈对称设置，卡入测试片凹槽（31）内；霍尔测试片B（5）也卡入适配的测试片凹槽（31）内。

4.根据权利要求3所述的霍尔产品测试线圈装置，其特征在于：所述霍尔测试片A（4）的中部凸起呈2个卡凸（41），2个卡凸（41）之间为卡槽（42）；所述霍尔测试片B（5）的一端呈逐渐收窄后的触凸（51）；所述2个霍尔测试片A（4）形成的4个卡凸（41）和触凸（51）的端部相对，形成待测产品（8）两侧引脚（81）的接触端。

5.根据权利要求4所述的霍尔产品测试线圈装置，其特征在于：所述项圈（2）的底面设置圆形的内嵌凸台（21），并通过内嵌凸台（21）内嵌入圆形通孔（123）内；所述内嵌凸台（21）的中部设置有方孔（22），所述方孔（22）用于锁固霍尔活动夹（6）。

6.根据权利要求5所述的霍尔产品测试线圈装置，其特征在于：所述霍尔活动夹（6）端部的中心处设置有顶杆（61）。

7.一种权利要求1至6任一所述霍尔产品测试线圈装置的测试方法，其特征在于：步骤为：

步骤一、待测产品压入：芯片分选机吸嘴将待测产品（8）中部的封装体（82）吸附后压入圆形凹槽（124）内的霍尔活动夹（6）；

步骤二、待测产品的测试：待测产品（8）两侧的引脚（81）接触霍尔测试片进行测试并记录；

步骤三、待测产品的顶出：测试完成后，分选机吸嘴上升，吸嘴上的待测产品（8）在真空吸附作用下，将待测产品（8）取出；

步骤四、重复步骤一至三，测试另外的待测产品（8）。