[发明专利]光学元件检查设备

说明书

本发明提供了一种光学元件检查设备，光学元件检查设备用于检查一UV膜载具上的光学元件的良莠，光学元件检查设备包括一第一检查装置及一第二检查装置；第一检查装置用于拍摄取得各光学元件的顶面影像，并对各顶面影像进行分析，及根据分析结果判断出合格与不合格的光学元件并记录其位置；第二检查装置配置在第一检查装置之后，并只拍摄取得被第一检查装置判断为合格的光学元件的底面影像，对各底面影像进行分析，根据分析结果判断出合格与不合格的光学元件，及将合格的光学元件放置在一UV膜上。另外，包装装置由一UV膜载具及一UV膜所构成，UV膜载具的一UV承载膜与UV膜可相黏合，上述经检查为合格的多个光学元件被密封在UV承载膜与UV膜之间。

技术领域

本发明与光学元件检查设备有关；特别关于用于检查红外线截止滤光片的瑕疵检查设备。

背景技术

现有的电子装置，特别是可携式电子装置，例如数码相机、数码摄影机、手机、笔记本电脑、电子游乐器等等，已经普遍具备影像撷取功能，因此，由一影像感测器(CCD或CMOS)、若干光学透镜、与一红外线截止滤光片所构成的光学镜头，已经是这些电子装置基本配备了。其中，之所以需要设置该红外线截止滤光片，是因为在拍摄彩色景物时，该影像感测器不但会接收到人眼可感知的可见光，也会接收到红外线等不可见光，以致于所拍摄到的影像因受到红外线的影响而发生失真或是色偏等情形。为避免这种情形发生，故于该影像感测器之前设置该红外线截止滤光片，借以滤掉红外线而使得所拍摄出来的影像更加真实。

传统的反射式红外线截止滤光片在一玻璃材料的表面镀上一层用以反射红外线的红外线膜(IR reflective film)，借以达到滤除红外线的目的。另一种较新的滤光片是吸收式红外线截止滤光片，主要通过蓝玻璃吸收红外线的特性来滤除红外线，这类的滤光片的制程主要包括镀膜制程及切割制程，此可参见中国公告号为CN103376489B的专利、中国公告号为CN104977638A的专利等专利案。

目前，所述的切割制程是将一或多片已镀膜的中片黏贴在一现有UV膜载具后再进行切割，如图1所示，该现有UV膜载具1包括一环形框架10及一UV膜11。该UV膜11是一种光解胶膜(UV Release Tape)，其表面具有黏性，用以黏住各中片2a。这些中片2a经过切割之后即分割成多片小小的滤光片2。

另外，也可在切割制程之前实施一印刷制程，用以在每一滤光片2的一顶面201形成一个黑色的遮光框20，一如图2的放大图所示，该遮光框20的形状依需求而决定，不以图中所示的形状为限。如图3的放大图所示，所述的现有滤光片2的中间是一层蓝玻璃23，顶面及底面则分别为一红外线反射膜22及一抗反射膜21，而所述的遮光框20则是印刷在该红外线反射膜22上。其它的现有滤光片可参考中国台湾第I463194号专利、中国台湾第I507711号专利、中国台湾第I486632号专利、中国台湾第I475246号专利、中国公告号为CN103364859 B的专利、中国公告号为CN102809772 B的专利、中国公告号为CN203287553 U的专利等专利案中以蓝玻璃制造的红外线截止滤光片，容不赘述。

发明内容

现有滤光片于出货之后经常发现有裂痕、崩角、水痕、遮光框印刷不良、厚度太厚等瑕疵的问题，因此，本发明的目的是提供一种光学元件检查设备，其利用影像分析找出有瑕疵的不合格滤光片，借以解决前述问题，且较佳地，还进一步将合格滤光片密封在一滤光片包装装置中，以保护各合格滤光片，避免于运送过程受到污染。

本发明提供了一种光学元件检查设备，其中，所述光学元件检查设备用于检查一UV膜载具上的光学元件的良莠，所述光学元件检查设备包括：

一第一检查装置，所述第一检查装置包括一取像模组及一第一分析判断模组；所述取像模组用于拍摄所述UV膜载具上的所述光学元件的顶面，以拍摄取得各所述光学元件的顶面影像，并且所述取像模组将所拍摄到的各所述顶面影像传送给所述第一分析判断模组；所述第一分析判断模组对各所述顶面影像进行分析，并且所述第一分析判断模组判断出不合格的所述光学元件并记录各不合格的所述光学元件的位置；及