[发明专利]光学元件检查设备

权利要求书

1.一种光学元件检查设备，其特征在于，所述光学元件检查设备用于检查一UV膜载具上的光学元件的良莠，所述光学元件检查设备包括：

一第一检查装置，所述第一检查装置包括一取像模组及一第一分析判断模组；所述取像模组用于拍摄所述UV膜载具上的所述光学元件的顶面，以拍摄取得各所述光学元件的顶面影像，并且所述取像模组将所拍摄到的各所述顶面影像传送给所述第一分析判断模组；所述第一分析判断模组对各所述顶面影像进行分析，并且所述第一分析判断模组判断出不合格的所述光学元件并记录各不合格的所述光学元件的位置；及

一第二检查装置，所述第二检查装置包括一第一移动载台、一转盘、设置在所述转盘上且沿圆周排列的多支升降吸取器、一摄像模组、一第二移动载台及一第二分析判断模组；每一支所述升降吸取器均能随着所述转盘的转动而依序经过所述第一移动载台、所述摄像模组及所述第二移动载台，且当其中一支所述升降吸取器到达所述第一移动载台的上方的一预备取出位置时，另外两支所述升降吸取器就会刚好分别停在所述摄像模组的正上方与所述第二移动载台的上方的一预备放置位置；每一所述升降吸取器每次到达所述预备取出位置时就会进行从所述UV膜载具上吸走一片所述光学元件的动作；每一所述升降吸取器连同所吸住的所述光学元件每次到达所述摄像模组的正上方时，所述摄像模组就拍摄所述光学元件的底面，以拍摄得到各所述光学元件的底面影像，并将各所述底面影像传送给所述第二检查装置的所述第二分析判断模组；所述第二检查装置的所述第二分析判断模组对各所述底面影像进行分析，并且所述第二检查装置的所述第二分析判断模组判断出不合格的所述光学元件；各所述升降吸取器所吸住的所述光学元件中若有被所述第二检查装置的所述第二分析判断模组判断为一合格的所述光学元件的，则吸住合格的所述光学元件的所述升降吸取器就会在到达所述预备放置位置时，进行一放置动作，以将合格的所述光学元件释放在所述第二移动载台上的一UV膜，并使合格的所述光学元件被黏于所述UV膜具有黏性的一面；各所述升降吸取器所吸住的所述光学元件中若有被所述第二检查装置的所述第二分析判断模组判断为一不合格的所述光学元件的，则吸住不合格的所述光学元件的所述升降吸取器在到达所述预备放置位置时不进行所述放置动作，直到吸住不合格的所述光学元件的所述升降吸取器随着所述转盘转动到达一废料释放位置才释放不合格的所述光学元件，不合格的所述光学元件由一废料收集装模组收集。

2.根据权利要求1所述的光学元件检查设备，其特征在于，所述第二检查装置包括位于所述第一移动载台上的一顶针机构，所述顶针机构会在每一所述升降吸取器每次执行吸走所述光学元件的动作时往上顶触目前待吸走的所述光学元件。

3.根据权利要求1所述的光学元件检查设备，其特征在于，所述第二检查装置还根据所述第一检查装置的分析判断结果而使所述升降吸取器只吸取被所述第一检查装置判断为合格的所述光学元件。

4.根据权利要求1所述的光学元件检查设备，其特征在于，所述光学元件检查设备还包括一包装装置，所述包装装置能使所述UV膜与一所述UV膜载具的一UV承载膜相贴合，以使各合格的所述光学元件被密封在所述UV承载膜与所述UV膜之间。

5.根据权利要求4所述的光学元件检查设备，其特征在于，所述包装装置还包括用以施加氮气的一氮气施加模组，以使各合格的所述光学元件是在氮气环境中被密封于所述UV承载膜与所述UV膜之间。

6.根据权利要求1至5任一项所述的光学元件检查设备，其特征在于，所述光学元件检查设备还包括一厚度检查装置，所述厚度检查装置配置在所述第一检查装置之前，所述厚度检查装置用以对所述UV膜载具上的所述光学元件以雷射光进行厚度检查，只要其中一所述光学元件的厚度被判断为不合格，所述UV膜载具就被移到废料区而不往所述第一检查装置运送。