[发明专利]阵列基板的外围电路结构

说明书

本发明公开了一种阵列基板的外围电路结构，其包括第一GOA电路、第一阵列测试焊盘、第二GOA电路、第二阵列测试焊盘以及HVA制程线路；所述第一阵列测试焊盘和第二阵列测试焊盘分别通过第一连接线和第二连接线连接到HVA制程线路；其中，从所述第一阵列测试焊盘为起点，依次经由第一连接线、HVA制程线路、第二连接线连接至第二阵列测试焊盘形成的电路线路上设置有电路断点，所述电路断点上预设有焊接点位，所述焊接点位用于在进行焊接工艺后将所述电路断点电性连通。本发明实现了针对两个GOA电路的分别独立测试，从而避免了漏检现象的出现。此外，本发明在HVA制程中又可以采用双驱动模式，有利于提升HVA制程的固化效果。

技术领域

本发明涉及显示器技术领域，具体涉及一种阵列基板的外围电路结构。

背景技术

在现有的显示面板技术中，GOA(Gate-driver On Array)技术因为能够减小面板边框的尺寸，具有降低成本的优势，已经在液晶面板设计中得到了广泛的应用。

由于GOA电路是由a-Si TFT器件构成，而a-Si TFT器件的驱动能力相对较弱，因此大尺寸的GOA型显示面板一般都采用双边驱动的设计。图1是一个双边驱动的GOA型液晶显示面板的架构示意图，这是一个具有四路时钟信号(CK1至CK4)的GOA电路示意图。位于图1中间的虚线框表示液晶显示面板的显示区域。图中第1级至第7级分别表示第一级GOA电路单元至第七级GOA电路单元。G1至G7则分别表示第一级GOA电路单元的栅极线至第七级GOA电路单元的栅极线。ST1表示第一级GOA电路单元发给第三级GOA电路单元的信号，该信号用于将第三级GOA电路单元的Q点电位提升，ST3表示第三级GOA电路单元发给第一级GOA电路单元的信号，该信号用于将第一级GOA电路单元的Q点电位拉低；以此类推，其他两级GOA电路单元之间的ST信号的作用与ST1和ST3是相同的原理。两个GOA电路位于显示区域的左右两侧，两侧的GOA电路关于显示区域是对称的，每侧的GOA电路包含多级GOA单元。每条栅极线同时连接左右两个GOA电路，例如图1中的栅极线G1同时连接左右两侧的第一级GOA电路单元，栅极线G2同时连接左右两侧的第二级GOA电路单元。

当面板正常工作时，左右两侧GOA电路中的第一级GOA电路单元输出相同的栅极脉冲波形，左右两侧GOA电路中的第二级GOA电路单元输出相同的栅极脉冲波形。以此类推，左右两侧GOA电路中的第n级GOA电路单元输出相同的栅极脉冲波形。采用双边驱动设计后，栅极线的最大RC负载会减小至单边驱动情况下的1/4，这样对提升液晶显示器的显示品质是非常有利的。

图2是图1中的显示面板对应的阵列基板在生产制作时的外围电路连接示意图。最外围的是HVA焊盘(HVA Pad)1a、1b和HVA制程线路(HVA Circuit)2。具体地，HVA焊盘1a、1b和HVA制程线路2是用于进行高垂直排列配向(High Vertical Alignment Curing)工艺，HVA Curing工艺主要是利用液晶中的高分子在紫外光和电压共同作用下聚合，并对液晶实现自动配向。在进行液晶像素的HVA制程时，信号源的探针(Probe)扎在HVA焊盘1a、1b上，通过HVA制程线路2给面板内部加信号以完成HVA制程。位于HVA制程线路2内侧的是阵列测试焊盘(Array Test Pad)3a、3b和短路棒(Shorting Bar)4。同样地，在GOA测试制程时，信号源的探针扎在阵列测试焊盘3a、3b上，向GOA电路5a、5b提供测试信号。两组阵列测试焊盘3a、3b分别对应两侧的GOA电路5a、5b。另外，HVA制程线路2和阵列测试焊盘3a、3b是连通的，这样设计的优点在于通过对GOA测试制程段的检查就可以测试出HVA线路是否发生了异常，对后续制程良率的提升是非常有帮助的。